发光二极管的检测装置及检测方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202410808323.7
申请日
2024-06-21
公开(公告)号
CN118655436A
公开(公告)日
2024-09-17
发明(设计)人
宋玉华 刘昭宇 张威
申请人
京东方华灿光电(浙江)有限公司
申请人地址
322000 浙江省金华市义乌市苏溪镇苏福路233号
IPC主分类号
G01R31/26
IPC分类号
G01R1/073
代理机构
北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138
代理人
徐立
法律状态
实质审查的生效
国省代码
浙江省 金华市
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共 50 条
[1]
发光二极管的检测方法和检测装置 [P]. 
陈虹滨 ;
吴龙佳 .
中国专利 :CN118068148A ,2024-05-24
[2]
主板发光二极管检测装置及方法 [P]. 
吴冠霖 ;
陈维沅 .
中国专利 :CN101169340B ,2008-04-30
[3]
用于发光二极管晶片的检测装置及发光二极管 [P]. 
卢军 ;
熊永福 ;
邢沈立 .
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[4]
发光二极管检测装置 [P]. 
秦世全 .
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[5]
发光二极管检测装置 [P]. 
周哲 .
中国专利 :CN201540340U ,2010-08-04
[6]
发光二极管检测装置 [P]. 
张荣斌 .
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[7]
发光二极管检测装置 [P]. 
徐诺维 .
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[8]
发光二极管检测装置 [P]. 
王向阳 ;
冯建鑫 .
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[9]
发光二极管检测装置和方法 [P]. 
薛方 ;
宁荣彬 .
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[10]
发光二极管检测装置 [P]. 
张荣斌 .
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