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发光二极管的检测装置及检测方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202410808323.7
申请日
:
2024-06-21
公开(公告)号
:
CN118655436A
公开(公告)日
:
2024-09-17
发明(设计)人
:
宋玉华
刘昭宇
张威
申请人
:
京东方华灿光电(浙江)有限公司
申请人地址
:
322000 浙江省金华市义乌市苏溪镇苏福路233号
IPC主分类号
:
G01R31/26
IPC分类号
:
G01R1/073
代理机构
:
北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138
代理人
:
徐立
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
浙江省 金华市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-10-08
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/26申请日:20240621
2024-09-17
公开
公开
共 50 条
[1]
发光二极管的检测方法和检测装置
[P].
陈虹滨
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
TCL科技集团股份有限公司
TCL科技集团股份有限公司
陈虹滨
;
吴龙佳
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
TCL科技集团股份有限公司
TCL科技集团股份有限公司
吴龙佳
.
中国专利
:CN118068148A
,2024-05-24
[2]
主板发光二极管检测装置及方法
[P].
吴冠霖
论文数:
0
引用数:
0
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0
吴冠霖
;
陈维沅
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈维沅
.
中国专利
:CN101169340B
,2008-04-30
[3]
用于发光二极管晶片的检测装置及发光二极管
[P].
卢军
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
东莞市亿晶源光电科技有限公司
东莞市亿晶源光电科技有限公司
卢军
;
熊永福
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
东莞市亿晶源光电科技有限公司
东莞市亿晶源光电科技有限公司
熊永福
;
邢沈立
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
东莞市亿晶源光电科技有限公司
东莞市亿晶源光电科技有限公司
邢沈立
.
中国专利
:CN119325314B
,2025-07-08
[4]
发光二极管检测装置
[P].
秦世全
论文数:
0
引用数:
0
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0
秦世全
.
中国专利
:CN213934094U
,2021-08-10
[5]
发光二极管检测装置
[P].
周哲
论文数:
0
引用数:
0
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0
周哲
.
中国专利
:CN201540340U
,2010-08-04
[6]
发光二极管检测装置
[P].
张荣斌
论文数:
0
引用数:
0
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0
张荣斌
.
中国专利
:CN104515943A
,2015-04-15
[7]
发光二极管检测装置
[P].
徐诺维
论文数:
0
引用数:
0
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0
徐诺维
.
中国专利
:CN110833994A
,2020-02-25
[8]
发光二极管检测装置
[P].
王向阳
论文数:
0
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0
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机构:
江苏北华微电子科技有限公司
江苏北华微电子科技有限公司
王向阳
;
冯建鑫
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
江苏北华微电子科技有限公司
江苏北华微电子科技有限公司
冯建鑫
.
中国专利
:CN119456471A
,2025-02-18
[9]
发光二极管检测装置和方法
[P].
薛方
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薛方
;
宁荣彬
论文数:
0
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0
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0
宁荣彬
.
中国专利
:CN113074914A
,2021-07-06
[10]
发光二极管检测装置
[P].
张荣斌
论文数:
0
引用数:
0
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0
张荣斌
.
中国专利
:CN203551733U
,2014-04-16
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