芯片产品FT测试装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202121191989.0
申请日
2021-05-31
公开(公告)号
CN214795105U
公开(公告)日
2021-11-19
发明(设计)人
饶思建 罗伟标 唐佐
申请人
申请人地址
516000 广东省东莞市大岭山镇杨屋东埔新村路110号2栋302室
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
代理机构
惠州市超越知识产权代理事务所(普通合伙) 44349
代理人
陈文福
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
鼠标芯片的FT测试装置 [P]. 
姬起群 ;
谭一成 .
中国专利 :CN204595161U ,2015-08-26
[2]
芯片测试装置 [P]. 
熊凯 ;
文亚东 ;
辜诗涛 ;
张亦锋 ;
袁俊 .
中国专利 :CN211086513U ,2020-07-24
[3]
芯片测试装置 [P]. 
刘琪 ;
吴伟军 ;
林德先 .
中国专利 :CN214374907U ,2021-10-08
[4]
芯片测试装置 [P]. 
沈琦崧 ;
余玉龙 .
中国专利 :CN206020601U ,2017-03-15
[5]
芯片测试装置 [P]. 
嵇杰 ;
鲁刚强 .
中国专利 :CN221148846U ,2024-06-14
[6]
芯片测试装置 [P]. 
朱玥琦 ;
武恒文 ;
朱捷 .
中国专利 :CN215007530U ,2021-12-03
[7]
芯片测试装置 [P]. 
请求不公布姓名 ;
黄学楼 ;
陈东林 ;
郭航旗 ;
夏嵩 .
中国专利 :CN223155145U ,2025-07-25
[8]
一种芯片FT测试装置 [P]. 
顾卫民 ;
邓浩 ;
王一寒 .
中国专利 :CN117783826B ,2024-05-28
[9]
一种芯片FT测试装置 [P]. 
顾卫民 ;
邓浩 ;
王一寒 .
中国专利 :CN117783826A ,2024-03-29
[10]
芯片温度测试装置 [P]. 
杨建设 ;
张雅凯 .
中国专利 :CN222653075U ,2025-03-21