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芯片产品FT测试装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202121191989.0
申请日
:
2021-05-31
公开(公告)号
:
CN214795105U
公开(公告)日
:
2021-11-19
发明(设计)人
:
饶思建
罗伟标
唐佐
申请人
:
申请人地址
:
516000 广东省东莞市大岭山镇杨屋东埔新村路110号2栋302室
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
代理机构
:
惠州市超越知识产权代理事务所(普通合伙) 44349
代理人
:
陈文福
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-11-19
授权
授权
共 50 条
[1]
鼠标芯片的FT测试装置
[P].
姬起群
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姬起群
;
谭一成
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谭一成
.
中国专利
:CN204595161U
,2015-08-26
[2]
芯片测试装置
[P].
熊凯
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熊凯
;
文亚东
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文亚东
;
辜诗涛
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辜诗涛
;
张亦锋
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张亦锋
;
袁俊
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袁俊
.
中国专利
:CN211086513U
,2020-07-24
[3]
芯片测试装置
[P].
刘琪
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刘琪
;
吴伟军
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吴伟军
;
林德先
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林德先
.
中国专利
:CN214374907U
,2021-10-08
[4]
芯片测试装置
[P].
沈琦崧
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沈琦崧
;
余玉龙
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余玉龙
.
中国专利
:CN206020601U
,2017-03-15
[5]
芯片测试装置
[P].
嵇杰
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豪威半导体(太仓)有限公司
豪威半导体(太仓)有限公司
嵇杰
;
鲁刚强
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机构:
豪威半导体(太仓)有限公司
豪威半导体(太仓)有限公司
鲁刚强
.
中国专利
:CN221148846U
,2024-06-14
[6]
芯片测试装置
[P].
朱玥琦
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朱玥琦
;
武恒文
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武恒文
;
朱捷
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朱捷
.
中国专利
:CN215007530U
,2021-12-03
[7]
芯片测试装置
[P].
请求不公布姓名
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机构:
深圳宏芯宇电子股份有限公司
深圳宏芯宇电子股份有限公司
请求不公布姓名
;
黄学楼
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机构:
深圳宏芯宇电子股份有限公司
深圳宏芯宇电子股份有限公司
黄学楼
;
陈东林
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深圳宏芯宇电子股份有限公司
深圳宏芯宇电子股份有限公司
陈东林
;
郭航旗
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深圳宏芯宇电子股份有限公司
深圳宏芯宇电子股份有限公司
郭航旗
;
夏嵩
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机构:
深圳宏芯宇电子股份有限公司
深圳宏芯宇电子股份有限公司
夏嵩
.
中国专利
:CN223155145U
,2025-07-25
[8]
一种芯片FT测试装置
[P].
顾卫民
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机构:
无锡芯启博电子有限公司
无锡芯启博电子有限公司
顾卫民
;
邓浩
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机构:
无锡芯启博电子有限公司
无锡芯启博电子有限公司
邓浩
;
王一寒
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机构:
无锡芯启博电子有限公司
无锡芯启博电子有限公司
王一寒
.
中国专利
:CN117783826B
,2024-05-28
[9]
一种芯片FT测试装置
[P].
顾卫民
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机构:
无锡芯启博电子有限公司
无锡芯启博电子有限公司
顾卫民
;
邓浩
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机构:
无锡芯启博电子有限公司
无锡芯启博电子有限公司
邓浩
;
王一寒
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机构:
无锡芯启博电子有限公司
无锡芯启博电子有限公司
王一寒
.
中国专利
:CN117783826A
,2024-03-29
[10]
芯片温度测试装置
[P].
杨建设
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机构:
昆山思特威集成电路有限公司
昆山思特威集成电路有限公司
杨建设
;
张雅凯
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机构:
昆山思特威集成电路有限公司
昆山思特威集成电路有限公司
张雅凯
.
中国专利
:CN222653075U
,2025-03-21
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