具有测试电路的模拟IC和用于这种IC的测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200680039633.7

申请日：

2006-10-20

公开(公告)号：

CN101297209B

公开(公告)日：

2008-10-29

发明(设计)人：

阿米尔·齐亚约亨德里克·J·贝戈弗尔德罗杰·F·舒特尔特乔斯·德·热苏斯·皮内达·德·于瓦兹

申请人：

申请人地址：

荷兰艾恩德霍芬

IPC主分类号：

G01R313185

IPC分类号：

G01R31317

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司 11021

代理人：

王波波

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2011-03-16	授权	授权
2008-12-24	实质审查的生效	实质审查的生效
2008-10-29	公开	公开
2016-12-07	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101691175928 IPC(主分类):G01R 31/3185 专利号:ZL2006800396337 申请日:20061020 授权公告日:20110316 终止日期:20151020

共 50 条

[1]

IC测试方法和设备 [P].

汤姆·瓦叶尔斯 .

中国专利 :CN101292171A ,2008-10-22

[2]

IC测试方法和设备 [P].

汤姆·瓦叶尔斯 .

中国专利 :CN101297208B ,2008-10-29

[3]

用于IC测试的测试插座 [P].

余维斌 ;

曾劭钧 .

中国专利 :CN221707537U ,2024-09-13

[4]

带有RF模块的集成电路、具有这种IC的电子设备和用于测试这种模块的方法 [P].

杰伦·屈嫩 ;

萨利姆·卡拉 ;

菲利普·索莱伊 ;

比拉勒·卡西尔 ;

克里斯托夫·克尔马 .

中国专利 :CN101784904A ,2010-07-21

[5]

可测试集成电路和IC测试方法 [P].

何塞普·里乌斯·巴斯克斯 ;

路易斯·埃尔维拉·比利亚格拉 ;

林兹·I·M·P·迈耶 .

中国专利 :CN101512361B ,2009-08-19

[6]

IC测试方法及设备 [P].

汤姆·瓦叶尔斯 ;

理查德·莫雷 .

中国专利 :CN101300500A ,2008-11-05

[7]

IC测试方法及设备 [P].

汤姆·瓦叶尔斯 .

中国专利 :CN101297207B ,2008-10-29

[8]

用于IC测试的测试插座及其制造方法 [P].

余维斌 ;

曾劭钧 .

中国专利 :CN119667212A ,2025-03-21

[9]

用于实施IC器件测试的方法和设备 [P].

A·J·小格来戈里奇 .

中国专利 :CN101236233A ,2008-08-06

[10]

IC芯片测试系统和测试方法 [P].

陈洲 ;

翟冠杰 ;

程君健 .

中国专利 :CN119471329B ,2025-08-19

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