一种测量准一维纳米材料赛贝克系数的方法和系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200810119277.0

申请日：

2008-09-02

公开(公告)号：

CN101354388B

公开(公告)日：

2009-01-28

发明(设计)人：

许胜勇高亦斌王俊逸王烨彭练矛

申请人：

申请人地址：

100871 北京市海淀区颐和园路5号

IPC主分类号：

G01N3300

IPC分类号：

G01N2500

代理机构：

北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙) 11200

代理人：

李稚婷

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2009-03-25	实质审查的生效	实质审查的生效
2011-11-09	授权	授权
2009-01-28	公开	公开
2015-10-28	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101631642157 IPC(主分类):G01N 33/00 专利号:ZL2008101192770 申请日:20080902 授权公告日:20111109 终止日期:20140902

共 50 条

[1]

Sialon准一维纳米材料及其制备方法 [P].

温广武 ;

覃春林 .

中国专利 :CN100999412A ,2007-07-18

[2]

一维纳米材料的制备方法 [P].

章桥新 ;

张佳明 .

中国专利 :CN101126165B ,2008-02-20

[3]

一种薄膜材料的赛贝克系数测量装置及方法 [P].

缪向水 ;

张军 ;

童浩 ;

陈子琪 ;

王愿兵 ;

蔡颖锐 ;

李小平 ;

聂群 .

中国专利 :CN109738481A ,2019-05-10

[4]

一种一维纳米材料的观测方法 [P].

武文赟 ;

李东琦 ;

张金 ;

姜开利 ;

范守善 .

中国专利 :CN109425591A ,2019-03-05

[5]

一种一维纳米材料顶点检测方法和系统 [P].

于志强 ;

石青 ;

陈会金 ;

黄强 ;

福田敏男 .

中国专利 :CN112435233A ,2021-03-02

[6]

实现与p型ZnS准一维纳米材料欧姆接触的电极及其制备方法 [P].

于永强 ;

蒋阳 ;

揭建胜 ;

吴春艳 ;

王莉 ;

朱志峰 .

中国专利 :CN102544075A ,2012-07-04

[7]

一种测量赛贝克系数用的测量装置 [P].

陈立东 ;

史迅 ;

黄向阳 ;

王东立 ;

柏胜强 ;

姚琴 ;

蒋俊 .

中国专利 :CN2824026Y ,2006-10-04

[8]

原位组装一维纳米材料的方法和装置 [P].

朱振兴 ;

魏飞 ;

白云祥 .

中国专利 :CN107337177B ,2017-11-10

[9]

一种测量二维纳米材料弯曲刚度的方法 [P].

肖钧凯 ;

汪国睿 ;

戴兆贺 ;

刘璐琪 ;

张忠 .

中国专利 :CN108871961A ,2018-11-23

[10]

机械剪切一维纳米材料的方法 [P].

张亚非 ;

刘丽月 .

中国专利 :CN1974020A ,2007-06-06

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