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一种探针台及IGBT芯片测试系统

被引：0
申请号：
CN202122761519.X
申请日：
2021-11-11
公开(公告)号：
CN216248084U
公开(公告)日：
2022-04-08
发明(设计)人：
杜泽晨 杨霏 吴军民
申请人：
申请人地址：
102209 北京市昌平区未来科技城滨河大道18号
IPC主分类号：
G01R1073
IPC分类号：
G01R3128
代理机构：
北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250
代理人：
薛异荣
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-04-08 授权 授权
共 50 条
[1]
一种探针台及芯片测试系统 [P]. 
杨昌林 ;
付云龙 ;
程国庆 ;
张帅 .
中国专利 :CN113092989A ,2021-07-09
[2]
一种探针台及芯片测试系统 [P]. 
杨昌林 ;
付云龙 ;
程国庆 ;
张帅 .
中国专利 :CN113092989B ,2024-02-27
[3]
探针台测试系统及探针台测试显示装置 [P]. 
顾汉玉 .
中国专利 :CN201637795U ,2010-11-17
[4]
探针台及测试系统 [P]. 
吴贵阳 ;
王胜利 ;
李景均 .
中国专利 :CN120507548A ,2025-08-19
[5]
探针台及测试系统 [P]. 
吴贵阳 ;
王胜利 ;
李景均 .
中国专利 :CN120507548B ,2025-11-28
[6]
IGBT测试台和测试系统 [P]. 
张贞飞 ;
魏冬 ;
姜云旦 ;
王延金 ;
赵敏 ;
朱燕霞 .
中国专利 :CN211014533U ,2020-07-14
[7]
一种探针台及低温测试系统 [P]. 
王胜凯 ;
孙献文 ;
张伟风 ;
李广辉 ;
任勇 ;
潘都 ;
谢腾飞 .
中国专利 :CN106569116A ,2017-04-19
[8]
一种磁场探针台测试系统及测试方法 [P]. 
张学莹 ;
林冠屹 ;
王麟 .
中国专利 :CN111766551A ,2020-10-13
[9]
一种探针台芯片CP测试装置 [P]. 
王秀锦 ;
陆新城 ;
颜世超 ;
娄燕燕 ;
邵桂珍 ;
马欢 ;
吴楠 .
中国专利 :CN223006202U ,2025-06-20
[10]
一种芯片测试用探针台 [P]. 
李宝娟 .
中国专利 :CN220913180U ,2024-05-07
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