一种探针台及低温测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201610883879.8

申请日：

2016-10-10

公开(公告)号：

CN106569116A

公开(公告)日：

2017-04-19

发明(设计)人：

王胜凯孙献文张伟风李广辉任勇潘都谢腾飞

申请人：

申请人地址：

475004 河南省开封市明伦街85号

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

G01R1073

代理机构：

郑州睿信知识产权代理有限公司 41119

代理人：

贾东东

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-04-19	公开	公开
2019-04-26	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G01R 31/26 变更事项:发明人变更前:王胜凯孙献文张伟风李广辉任勇潘都谢腾飞变更后:孙献文王胜凯张伟风李广辉任勇潘都谢腾飞
2019-05-24	授权	授权
2017-05-17	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101719980209 IPC(主分类):G01R 31/26 专利申请号:2016108838798 申请日:20161010

共 50 条

[1]

探针台及测试系统 [P].

吴贵阳 ;

王胜利 ;

李景均 .

中国专利 :CN120507548A ,2025-08-19

[2]

探针台及测试系统 [P].

吴贵阳 ;

王胜利 ;

李景均 .

中国专利 :CN120507548B ,2025-11-28

[3]

一种屏蔽探针装置、低温探针台及低温探针系统 [P].

曾立 ;

师福林 ;

曹晋滨 ;

王楠 ;

符钰晖 ;

刘玉洁 .

中国专利 :CN114563602A ,2022-05-31

[4]

一种屏蔽探针装置、低温探针台及低温探针系统 [P].

曾立 ;

师福林 ;

曹晋滨 ;

王楠 ;

符钰晖 ;

刘玉洁 .

中国专利 :CN114563602B ,2025-07-22

[5]

探针台测试系统及探针台测试显示装置 [P].

顾汉玉 .

中国专利 :CN201637795U ,2010-11-17

[6]

一种探针台及芯片测试系统 [P].

杨昌林 ;

付云龙 ;

程国庆 ;

张帅 .

中国专利 :CN113092989A ,2021-07-09

[7]

一种探针台及芯片测试系统 [P].

杨昌林 ;

付云龙 ;

程国庆 ;

张帅 .

中国专利 :CN113092989B ,2024-02-27

[8]

一种磁场探针台测试系统及测试方法 [P].

张学莹 ;

林冠屹 ;

王麟 .

中国专利 :CN111766551A ,2020-10-13

[9]

一种探针台及IGBT芯片测试系统 [P].

杜泽晨 ;

杨霏 ;

吴军民 .

中国专利 :CN216248084U ,2022-04-08

[10]

一种磁场探针台测试系统 [P].

张学莹 ;

林冠屹 ;

王麟 .

中国专利 :CN212905397U ,2021-04-06

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