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一种双平面孔位置度与对称度同步测量检具
被引：0
申请号：
CN202123220812.1
申请日：
2021-12-21
公开(公告)号：
CN216694935U
公开(公告)日：
2022-06-07
发明(设计)人：
夏建祥
申请人：
申请人地址：
311221 浙江省杭州市萧山区党湾镇镇中村爱华路118号
IPC主分类号：
G01B2124
IPC分类号：
G01B2100
代理机构：
杭州融方专利代理事务所(普通合伙) 33266
代理人：
金磊
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-06-07 | 授权 | 授权 |