用于分析集成电路的方法、设备和集成电路

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200680024329.5

申请日：

2006-05-04

公开(公告)号：

CN101213465A

公开(公告)日：

2008-07-02

发明(设计)人：

马特吉·戈森斯弗兰克·萨卡里亚斯

申请人：

申请人地址：

荷兰艾恩德霍芬

IPC主分类号：

G01R31311

IPC分类号：

G01R3128 H01L2166

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司

代理人：

朱进桂

法律状态：

发明专利申请公布后的视为撤回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2011-03-23	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1603 号牌文件序号:101076734944 IPC(主分类):G01R 31/311 专利申请号:2006800243295 公开日:20080702
2008-07-02	公开	公开
2008-08-27	实质审查的生效	实质审查的生效

共 50 条

[1]

集成电路和用于集成电路的方法 [P].

布莱恩·J·卡姆普贝尔 ;

温森特·R·万卡纳尔 ;

格莱格里·S·斯柯特 ;

斯里巴兰·森萨纳姆 ;

丹尼尔·C·穆雷 .

中国专利 :CN102157188B ,2011-08-17

[2]

集成电路器件、集成电路布局和生成集成电路布局的方法 [P].

方上维 ;

曾健庭 ;

郑仪侃 ;

林彦宏 ;

黄圣丰 .

中国专利 :CN120187104A ,2025-06-20

[3]

集成电路和用于形成集成电路的方法 [P].

林孟汉 ;

谢智仁 .

中国专利 :CN112599530A ,2021-04-02

[4]

集成电路和用于诊断集成电路的方法 [P].

E·奥夫雷 ;

T·梅里斯 ;

P·西里托-奥利维耶 .

法国专利 :CN113945819B ,2024-07-19

[5]

用于制造集成电路的方法和集成电路 [P].

M.莱姆克 ;

S.特根 ;

M.福格特 .

中国专利 :CN103996660B ,2014-08-20

[6]

集成电路和用于诊断集成电路的方法 [P].

E·奥夫雷 ;

T·梅里斯 ;

P·西里托-奥利维耶 .

中国专利 :CN113945819A ,2022-01-18

[7]

集成电路和用于制作集成电路的方法 [P].

K.霍赛尼 ;

J.马勒 ;

I.尼基廷 ;

L.奥索夫斯基 .

中国专利 :CN103681531B ,2014-03-26

[8]

用于形成集成电路的方法和集成电路 [P].

邓立峯 ;

吴伟成 .

中国专利 :CN110634877B ,2019-12-31

[9]

集成电路和用于制造集成电路的方法 [P].

张耀文 ;

徐晨祐 ;

郑光茗 ;

蔡正原 .

中国专利 :CN108172560A ,2018-06-15

[10]

集成电路和用于形成集成电路的方法 [P].

林孟汉 ;

谢智仁 .

中国专利 :CN112599530B ,2025-04-01

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