用于磁性粒子成像的作为示踪物的群聚磁性粒子

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200880104584.X

申请日：

2008-08-28

公开(公告)号：

CN101790386B

公开(公告)日：

2010-07-28

发明(设计)人：

H·格鲁尔 H·M·B·博夫 D·马科夫

申请人：

申请人地址：

荷兰艾恩德霍芬

IPC主分类号：

A61K4918

IPC分类号：

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司 72001

代理人：

李亚非;谭祐祥

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-09-11	授权	授权
2010-10-27	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101010481928 IPC(主分类):A61K 49/18 专利申请号:200880104584X 申请日:20080828
2010-07-28	公开	公开
2017-10-17	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):A61K 49/18 申请日:20080828 授权公告日:20130911 终止日期:20160828

共 50 条

[1]

磁性粒子成像装置、磁性粒子成像方法和磁性粒子成像程序 [P].

吉田启太 ;

进泰彰 ;

冈田泰行 .

日本专利 :CN118042981A ,2024-05-14

[2]

磁性粒子成像系统和磁性粒子成像方法 [P].

山内一辉 ;

林重维 .

日本专利 :CN117957456A ,2024-04-30

[3]

磁性粒子成像装置 [P].

野村航大 ;

鹫野将臣 .

日本专利 :CN121219601A ,2025-12-26

[4]

用于磁性粒子成像的生物相容产品 [P].

D·马尔科夫 ;

H·M·B·伯芬 .

中国专利 :CN101980730A ,2011-02-23

[5]

用于磁性粒子成像(MPI)的高性能铁氧化物粒子示踪剂的合成 [P].

D·布丁斯基 ;

C·博伦德 ;

N·P·M·海科斯 .

中国专利 :CN102971014A ,2013-03-13

[6]

磁性粒子成像系统的校准方法 [P].

肯·巴里斯·托 ;

塞尔哈特·伊尔贝伊 ;

阿尔珀·贡戈 ;

侯赛因·埃姆雷·古文 ;

图勒加·丘库尔 ;

埃米内·乌尔库·萨丽塔斯·丘库尔 .

中国专利 :CN112400115A ,2021-02-23

[7]

磁性粒子成像系统的校准方法 [P].

肯·巴里斯·托 ;

塞尔哈特·伊尔贝伊 ;

阿尔珀·贡戈 ;

侯赛因·埃姆雷·古文 ;

图勒加·丘库尔 ;

埃米内·乌尔库·萨丽塔斯·丘库尔 .

:CN112400115B ,2024-05-24

[8]

用于磁性粒子成像的设备、用于影响和/或检测多个和单个磁性粒子的方法 [P].

J·韦泽尼克 ;

B·格莱克 ;

H·尼格尔 ;

A·伦丁 .

中国专利 :CN101626725B ,2010-01-13

[9]

用于分离磁性粒子的方法和设备、磁性粒子以及磁性粒子的用途 [P].

B·格莱希 ;

J·魏岑埃克 .

中国专利 :CN101563164B ,2009-10-21

[10]

使用磁性粒子成像的结肠筛查 [P].

J·伯格特 ;

I·施马勒 ;

J·E·拉米尔 ;

B·格莱希 ;

M·H·库恩 .

中国专利 :CN103209712A ,2013-07-17

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