一种IC芯片测试分选装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202023009955.3
申请日
2020-12-14
公开(公告)号
CN214077941U
公开(公告)日
2021-08-31
发明(设计)人
郭寂波
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区粤兴三道9号华中科技大学深圳产学研基地大楼B203
IPC主分类号
B07C536
IPC分类号
B07C538
代理机构
深圳市查策知识产权代理事务所(普通合伙) 44527
代理人
曾令安
法律状态
专利申请权、专利权的转移
国省代码
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共 50 条
[1]
一种IC芯片测试分选设备 [P]. 
查虎中 ;
汪阳 .
中国专利 :CN206935829U ,2018-01-30
[2]
一种芯片测试分选装置 [P]. 
黄波 .
中国专利 :CN218133428U ,2022-12-27
[3]
一种IC芯片测试分选机构 [P]. 
钟伟雄 .
中国专利 :CN217191025U ,2022-08-16
[4]
一种IC芯片测试分选机构 [P]. 
查虎中 ;
汪阳 .
中国专利 :CN206935818U ,2018-01-30
[5]
一种IC 芯片测试分选机的测试抓手总成装置 [P]. 
林宜龙 ;
付义超 ;
唐召来 ;
刘飞 .
中国专利 :CN202638769U ,2013-01-02
[6]
一种IC芯片自动测试分选机 [P]. 
林宜龙 ;
付义超 ;
唐召来 ;
刘飞 ;
王能翔 ;
母华程 .
中国专利 :CN102698969B ,2012-10-03
[7]
一种芯片测试分选装置 [P]. 
杨荣辉 ;
陆小艺 .
中国专利 :CN222220377U ,2024-12-24
[8]
一种芯片测试分选装置 [P]. 
陈钢全 ;
朱海马 ;
王成欣 ;
尚利 .
中国专利 :CN222710248U ,2025-04-04
[9]
一种芯片测试分选装置 [P]. 
徐辉 ;
廖志国 ;
李斌 .
中国专利 :CN220658415U ,2024-03-26
[10]
一种芯片测试分选装置 [P]. 
李维繁星 ;
张春霞 .
中国专利 :CN221046696U ,2024-05-31