一种光学芯片测试用的定位模组

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202121225347.8
申请日
2021-06-02
公开(公告)号
CN215005748U
公开(公告)日
2021-12-03
发明(设计)人
杜俊钟 赵自强
申请人
申请人地址
247126 安徽省池州市江南集中区新材料产业园6栋2楼
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
G01R102 G01R104
代理机构
北京久诚知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11542
代理人
齐葵
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种芯片测试用定位工装 [P]. 
姚国康 ;
唐瑞芳 ;
梁锡波 .
中国专利 :CN221926438U ,2024-10-29
[2]
一种芯片测试用定位吸盘 [P]. 
彭细明 .
中国专利 :CN221953339U ,2024-11-05
[3]
一种光学芯片测试用的吸盘 [P]. 
杜俊钟 ;
赵自强 .
中国专利 :CN214953933U ,2021-11-30
[4]
芯片测试用转接模组及芯片测试装置 [P]. 
李超 ;
闻岳 ;
钱澄 ;
杨斌 .
中国专利 :CN220961612U ,2024-05-14
[5]
一种芯片测试用的定位机构 [P]. 
刘泽鑫 .
中国专利 :CN215641672U ,2022-01-25
[6]
一种芯片测试用的定位装置 [P]. 
沈志文 ;
雷远坤 .
中国专利 :CN218099483U ,2022-12-20
[7]
一种芯片测试用的定位工装 [P]. 
刘泽鑫 .
中国专利 :CN215953786U ,2022-03-04
[8]
一种芯片测试用定位机构 [P]. 
陈云峰 ;
王志宇 .
中国专利 :CN222979658U ,2025-06-13
[9]
一种芯片测试用定位装置 [P]. 
蔡远利 ;
赵闯 ;
王岩 .
中国专利 :CN222200302U ,2024-12-20
[10]
一种芯片测试用快速定位治具 [P]. 
程厚明 .
中国专利 :CN215180383U ,2021-12-14