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一种光学芯片测试用的定位模组
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202121225347.8
申请日
:
2021-06-02
公开(公告)号
:
CN215005748U
公开(公告)日
:
2021-12-03
发明(设计)人
:
杜俊钟
赵自强
申请人
:
申请人地址
:
247126 安徽省池州市江南集中区新材料产业园6栋2楼
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
G01R102
G01R104
代理机构
:
北京久诚知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11542
代理人
:
齐葵
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-12-03
授权
授权
共 50 条
[1]
一种芯片测试用定位工装
[P].
姚国康
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市中科联微电子有限公司
深圳市中科联微电子有限公司
姚国康
;
唐瑞芳
论文数:
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机构:
深圳市中科联微电子有限公司
深圳市中科联微电子有限公司
唐瑞芳
;
梁锡波
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0
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机构:
深圳市中科联微电子有限公司
深圳市中科联微电子有限公司
梁锡波
.
中国专利
:CN221926438U
,2024-10-29
[2]
一种芯片测试用定位吸盘
[P].
彭细明
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0
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0
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机构:
深圳市禾盛精密电子有限公司
深圳市禾盛精密电子有限公司
彭细明
.
中国专利
:CN221953339U
,2024-11-05
[3]
一种光学芯片测试用的吸盘
[P].
杜俊钟
论文数:
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杜俊钟
;
赵自强
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赵自强
.
中国专利
:CN214953933U
,2021-11-30
[4]
芯片测试用转接模组及芯片测试装置
[P].
李超
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机构:
上海共进微电子技术有限公司
上海共进微电子技术有限公司
李超
;
闻岳
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机构:
上海共进微电子技术有限公司
上海共进微电子技术有限公司
闻岳
;
钱澄
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机构:
上海共进微电子技术有限公司
上海共进微电子技术有限公司
钱澄
;
杨斌
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机构:
上海共进微电子技术有限公司
上海共进微电子技术有限公司
杨斌
.
中国专利
:CN220961612U
,2024-05-14
[5]
一种芯片测试用的定位机构
[P].
刘泽鑫
论文数:
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刘泽鑫
.
中国专利
:CN215641672U
,2022-01-25
[6]
一种芯片测试用的定位装置
[P].
沈志文
论文数:
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沈志文
;
雷远坤
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雷远坤
.
中国专利
:CN218099483U
,2022-12-20
[7]
一种芯片测试用的定位工装
[P].
刘泽鑫
论文数:
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刘泽鑫
.
中国专利
:CN215953786U
,2022-03-04
[8]
一种芯片测试用定位机构
[P].
陈云峰
论文数:
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机构:
苏州纳希微半导体有限公司
苏州纳希微半导体有限公司
陈云峰
;
王志宇
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机构:
苏州纳希微半导体有限公司
苏州纳希微半导体有限公司
王志宇
.
中国专利
:CN222979658U
,2025-06-13
[9]
一种芯片测试用定位装置
[P].
蔡远利
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机构:
北京芯准检测技术研究院有限公司
北京芯准检测技术研究院有限公司
蔡远利
;
赵闯
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机构:
北京芯准检测技术研究院有限公司
北京芯准检测技术研究院有限公司
赵闯
;
王岩
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机构:
北京芯准检测技术研究院有限公司
北京芯准检测技术研究院有限公司
王岩
.
中国专利
:CN222200302U
,2024-12-20
[10]
一种芯片测试用快速定位治具
[P].
程厚明
论文数:
0
引用数:
0
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0
程厚明
.
中国专利
:CN215180383U
,2021-12-14
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