一种芯片测试用定位工装

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202420298275.7
申请日
2024-02-19
公开(公告)号
CN221926438U
公开(公告)日
2024-10-29
发明(设计)人
姚国康 唐瑞芳 梁锡波
申请人
深圳市中科联微电子有限公司
申请人地址
518000 广东省深圳市龙华区龙华街道油松社区瑞丰小区企生活人工智能油松园4栋3楼
IPC主分类号
G01R1/04
IPC分类号
G01R31/28
代理机构
深圳市知高达专利代理有限公司 44869
代理人
谭俊
法律状态
授权
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
一种芯片测试用的定位工装 [P]. 
刘泽鑫 .
中国专利 :CN215953786U ,2022-03-04
[2]
一种芯片测试用夹持工装 [P]. 
杨良春 ;
赵永峰 .
中国专利 :CN217787157U ,2022-11-11
[3]
一种芯片测试用工装夹具 [P]. 
陈坤 ;
李庆威 ;
丁银芝 .
中国专利 :CN223486021U ,2025-10-28
[4]
一种芯片测试用工装 [P]. 
江廷彬 ;
罗运标 ;
张海威 ;
王文亮 ;
徐梦凌 .
中国专利 :CN220323477U ,2024-01-09
[5]
一种芯片测试用工装 [P]. 
赵丽丽 .
中国专利 :CN216718602U ,2022-06-10
[6]
一种芯片测试用定位吸盘 [P]. 
彭细明 .
中国专利 :CN221953339U ,2024-11-05
[7]
一种芯片测试用定位机构 [P]. 
陈云峰 ;
王志宇 .
中国专利 :CN222979658U ,2025-06-13
[8]
一种芯片测试用定位装置 [P]. 
蔡远利 ;
赵闯 ;
王岩 .
中国专利 :CN222200302U ,2024-12-20
[9]
一种芯片测试用快速定位治具 [P]. 
程厚明 .
中国专利 :CN215180383U ,2021-12-14
[10]
一种光学芯片测试用的定位模组 [P]. 
杜俊钟 ;
赵自强 .
中国专利 :CN215005748U ,2021-12-03