膜厚量测方法及微波量测设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN03137398.4

申请日：

2003-06-23

公开(公告)号：

CN100416222C

公开(公告)日：

2005-01-19

发明(设计)人：

邓拔龙范光城

申请人：

申请人地址：

中国台湾

IPC主分类号：

G01B1502

IPC分类号：

代理机构：

北京中原华和知识产权代理有限责任公司

代理人：

寿宁;张华辉

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2005-03-16	实质审查的生效	实质审查的生效
2005-01-19	公开	公开
2008-09-03	授权	授权
2013-08-14	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101506341649 IPC(主分类):G01B 15/02 专利号:ZL031373984 申请日:20030623 授权公告日:20080903 终止日期:20120623

共 50 条

[1]

量测设备及量测方法 [P].

许宗民 ;

简哲圣 ;

廖建硕 .

中国专利 :CN103196366A ,2013-07-10

[2]

量测设备及量测方法 [P].

林冬盛 ;

蔡子琦 ;

李建军 .

中国专利 :CN101858728A ,2010-10-13

[3]

量测装置及量测方法 [P].

李雷 ;

成智 ;

陈平 ;

杨继文 ;

董林森 ;

孙长发 .

中国专利 :CN101210795A ,2008-07-02

[4]

一种膜厚量测设备 [P].

王朝辉 ;

徐康 ;

阚保国 ;

陈伏宏 .

中国专利 :CN222812350U ,2025-04-29

[5]

一种膜厚量测设备 [P].

赵敏敏 ;

杨档 ;

朱刚 ;

魏少琦 .

中国专利 :CN206919845U ,2018-01-23

[6]

波片光轴量测设备及量测方法 [P].

海博 .

中国专利 :CN105277341A ,2016-01-27

[7]

电缆高频量测设备及量测电缆的方法 [P].

陈笑 ;

黃襄临 .

中国专利 :CN109581072A ,2019-04-05

[8]

量测方法及相关联的量测设备 [P].

A·E·A·库伦 ;

郑舒婷 ;

H·A·J·克莱默 ;

K·J·L·王 .

:CN118871863A ,2024-10-29

[9]

量测方法及相关联的量测设备 [P].

S·纳吉布扎德 ;

N·加瓦赫里 .

:CN119487454A ,2025-02-18

[10]

量测设备 [P].

N·潘迪 ;

A·J·登鲍埃夫 ;

D·阿克布卢特 ;

M·J·M·范达姆 ;

H·巴特勒 ;

H·A·J·克拉默 ;

E·A·F·范德帕斯奇 ;

F·泽普 ;

J·A·L·J·瑞马克 ;

M·P·瑞因德斯 .

:CN112262345B ,2024-03-12

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