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一种膜厚量测设备
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201720917264.2
申请日
:
2017-07-26
公开(公告)号
:
CN206919845U
公开(公告)日
:
2018-01-23
发明(设计)人
:
赵敏敏
杨档
朱刚
魏少琦
申请人
:
申请人地址
:
215300 江苏省苏州市昆山市开发区龙腾路1号4幢
IPC主分类号
:
G01B1106
IPC分类号
:
代理机构
:
北京布瑞知识产权代理有限公司 11505
代理人
:
孟潭
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2018-01-23
授权
授权
共 50 条
[1]
一种膜厚量测设备
[P].
王朝辉
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
荣芯半导体(淮安)有限公司
荣芯半导体(淮安)有限公司
王朝辉
;
徐康
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机构:
荣芯半导体(淮安)有限公司
荣芯半导体(淮安)有限公司
徐康
;
阚保国
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机构:
荣芯半导体(淮安)有限公司
荣芯半导体(淮安)有限公司
阚保国
;
陈伏宏
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机构:
荣芯半导体(淮安)有限公司
荣芯半导体(淮安)有限公司
陈伏宏
.
中国专利
:CN222812350U
,2025-04-29
[2]
膜厚量测方法及微波量测设备
[P].
邓拔龙
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0
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0
邓拔龙
;
范光城
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范光城
.
中国专利
:CN100416222C
,2005-01-19
[3]
一种晶圆外延膜厚量测设备
[P].
周益初
论文数:
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机构:
盖泽华矽半导体科技(苏州)有限公司
盖泽华矽半导体科技(苏州)有限公司
周益初
;
卢利军
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0
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机构:
盖泽华矽半导体科技(苏州)有限公司
盖泽华矽半导体科技(苏州)有限公司
卢利军
;
周亭成
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0
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机构:
盖泽华矽半导体科技(苏州)有限公司
盖泽华矽半导体科技(苏州)有限公司
周亭成
;
任杰
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0
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0
机构:
盖泽华矽半导体科技(苏州)有限公司
盖泽华矽半导体科技(苏州)有限公司
任杰
.
中国专利
:CN119164293A
,2024-12-20
[4]
一种量测设备
[P].
张飞
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0
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0
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0
张飞
.
中国专利
:CN214750775U
,2021-11-16
[5]
一种量测设备
[P].
王朝辉
论文数:
0
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机构:
荣芯半导体(淮安)有限公司
荣芯半导体(淮安)有限公司
王朝辉
;
阚保国
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0
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机构:
荣芯半导体(淮安)有限公司
荣芯半导体(淮安)有限公司
阚保国
;
徐康
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0
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机构:
荣芯半导体(淮安)有限公司
荣芯半导体(淮安)有限公司
徐康
;
陈伏宏
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机构:
荣芯半导体(淮安)有限公司
荣芯半导体(淮安)有限公司
陈伏宏
.
中国专利
:CN223390491U
,2025-09-26
[6]
一种用于载板的量测机构及其量测设备
[P].
黄庆云
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机构:
深圳市振云精密测试设备有限公司
深圳市振云精密测试设备有限公司
黄庆云
.
中国专利
:CN220356312U
,2024-01-16
[7]
一种量测设备
[P].
赖甘桔
论文数:
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机构:
万泰机电工业(昆山)有限公司
万泰机电工业(昆山)有限公司
赖甘桔
.
中国专利
:CN223122242U
,2025-07-18
[8]
一种用于光学膜厚量测设备的匹配方法
[P].
叶俊杰
论文数:
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机构:
上海诺睿科半导体设备有限公司
上海诺睿科半导体设备有限公司
叶俊杰
;
赵礼
论文数:
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0
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机构:
上海诺睿科半导体设备有限公司
上海诺睿科半导体设备有限公司
赵礼
.
中国专利
:CN117423634A
,2024-01-19
[9]
一种应用在铜膜厚量测设备上的门锁改良装置
[P].
黄汇丰
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黄汇丰
;
张弢
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张弢
;
蒋德念
论文数:
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0
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蒋德念
.
中国专利
:CN204081838U
,2015-01-07
[10]
一种光学镜片边厚差快速量测设备
[P].
陈健兵
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陈健兵
;
周琪
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周琪
;
张小明
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张小明
;
贾增华
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贾增华
;
戴志强
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戴志强
.
中国专利
:CN207779371U
,2018-08-28
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