一种老化测试系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN200820082006.8

申请日：

2008-01-04

公开(公告)号：

CN201141900Y

公开(公告)日：

2008-10-29

发明(设计)人：

陈显忠

申请人：

申请人地址：

313200浙江省德清县武康镇志远南路1098号

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

G01N3300 G01M1900 G05D23185 G05D2300

代理机构：

杭州丰禾专利事务所有限公司

代理人：

王鹏举

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2008-10-29	授权	授权
2014-03-12	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101575522760 IPC(主分类):G01R 31/00 专利号:ZL2008200820068 申请日:20080104 授权公告日:20081029 终止日期:20130104

共 50 条

[1]

一种老化测试系统 [P].

李金鹏 ;

张忠伟 ;

杨斌强 ;

周建 ;

王迪 ;

姚荦 .

中国专利 :CN205826811U ,2016-12-21

[2]

一种老化测试系统 [P].

梁远文 ;

陈长安 .

中国专利 :CN220289344U ,2024-01-02

[3]

一种老化测试系统 [P].

陈长俊 .

中国专利 :CN208572102U ,2019-03-01

[4]

一种老化测试系统 [P].

张泽胜 .

中国专利 :CN209070026U ,2019-07-05

[5]

一种老化测试系统 [P].

吴任甲 ;

王跃能 ;

黄忠 ;

赵超强 .

中国专利 :CN214278328U ,2021-09-24

[6]

一种老化测试系统 [P].

田林祖 ;

郑广月 .

中国专利 :CN201110878Y ,2008-09-03

[7]

一种电池老化测试系统 [P].

郑辉 .

中国专利 :CN215986416U ,2022-03-08

[8]

一种在线老化测试系统 [P].

张雄 ;

戚建成 .

中国专利 :CN204422670U ,2015-06-24

[9]

一种自动老化测试系统 [P].

黄厚源 .

中国专利 :CN215575532U ,2022-01-18

[10]

一种芯片老化测试系统 [P].

黄林 ;

朱祥 .

中国专利 :CN201096847Y ,2008-08-06

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