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一种老化测试系统

被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202120500669.2
申请日：
2021-03-09
公开(公告)号：
CN214278328U
公开(公告)日：
2021-09-24
发明(设计)人：
吴任甲 王跃能 黄忠 赵超强
申请人：
申请人地址：
363000 福建省漳州市金峰开发区金达路10号万利达工业园
IPC主分类号：
G01R3100
IPC分类号：
G01R104 H04L1240 H04L2908 G06F1342 G06K1700
代理机构：
厦门市首创君合专利事务所有限公司 35204
代理人：
李雁翔;吴晓梅
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2021-09-24 授权 授权
共 50 条
[1]
一种老化测试系统 [P]. 
陈长俊 .
中国专利 :CN208572102U ,2019-03-01
[2]
一种老化测试系统 [P]. 
田林祖 ;
郑广月 .
中国专利 :CN201110878Y ,2008-09-03
[3]
一种芯片老化测试系统 [P]. 
黄林 ;
朱祥 .
中国专利 :CN201096847Y ,2008-08-06
[4]
一种老化测试系统 [P]. 
李金鹏 ;
张忠伟 ;
杨斌强 ;
周建 ;
王迪 ;
姚荦 .
中国专利 :CN205826811U ,2016-12-21
[5]
一种老化测试系统 [P]. 
梁远文 ;
陈长安 .
中国专利 :CN220289344U ,2024-01-02
[6]
一种老化测试系统 [P]. 
崔闪闪 ;
王敏 ;
张冲 .
中国专利 :CN108801896A ,2018-11-13
[7]
一种老化测试系统 [P]. 
张泽胜 .
中国专利 :CN209070026U ,2019-07-05
[8]
一种老化测试系统 [P]. 
陈显忠 .
中国专利 :CN201141900Y ,2008-10-29
[9]
一种电池老化测试系统 [P]. 
郑辉 .
中国专利 :CN215986416U ,2022-03-08
[10]
一种新型老化测试系统 [P]. 
李继龙 ;
骆志锋 ;
徐妍妍 .
中国专利 :CN113567777A ,2021-10-29
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