学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
一种新型老化测试系统
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202110692806.1
申请日
:
2021-06-22
公开(公告)号
:
CN113567777A
公开(公告)日
:
2021-10-29
发明(设计)人
:
李继龙
骆志锋
徐妍妍
申请人
:
申请人地址
:
518000 广东省深圳市龙华区观澜街道新澜社区观光路1301-72号银星智界2号楼1301-1601
IPC主分类号
:
G01R3100
IPC分类号
:
代理机构
:
深圳市中科创为专利代理有限公司 44384
代理人
:
冯建华;刘曰莹
法律状态
:
公开
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-10-29
公开
公开
2021-11-16
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/00 申请日:20210622
共 50 条
[1]
一种老化测试系统
[P].
傅立秦
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
傅立秦
;
吴田进
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吴田进
;
刘雪冰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘雪冰
;
王辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王辉
;
史良辰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
史良辰
.
中国专利
:CN203838554U
,2014-09-17
[2]
一种老化测试系统
[P].
陈长俊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈长俊
.
中国专利
:CN208572102U
,2019-03-01
[3]
一种老化测试系统
[P].
崔闪闪
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
崔闪闪
;
王敏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王敏
;
张冲
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张冲
.
中国专利
:CN108801896A
,2018-11-13
[4]
一种老化测试系统
[P].
吴任甲
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吴任甲
;
王跃能
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王跃能
;
黄忠
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
黄忠
;
赵超强
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
赵超强
.
中国专利
:CN214278328U
,2021-09-24
[5]
老化测试电路、老化测试系统及老化测试方法
[P].
郝懿
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
郝懿
.
中国专利
:CN114660379A
,2022-06-24
[6]
老化测试电路、老化测试系统及老化测试方法
[P].
郝懿
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市鸿陆技术有限公司
深圳市鸿陆技术有限公司
郝懿
.
中国专利
:CN114660379B
,2025-02-11
[7]
一种老化测试夹具及老化测试系统
[P].
吴从
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
吴从
.
中国专利
:CN120314753A
,2025-07-15
[8]
一种老化测试夹具及老化测试系统
[P].
吴从
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
吴从
.
中国专利
:CN120314753B
,2025-11-14
[9]
老化测试系统及其批量老化测试方法
[P].
颜红华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市晶存科技股份有限公司
深圳市晶存科技股份有限公司
颜红华
.
中国专利
:CN119667449A
,2025-03-21
[10]
一种管芯电流老化测试系统
[P].
张春龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
扬州四菱电子有限公司
扬州四菱电子有限公司
张春龙
;
祝家俊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
扬州四菱电子有限公司
扬州四菱电子有限公司
祝家俊
;
王平
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
扬州四菱电子有限公司
扬州四菱电子有限公司
王平
.
中国专利
:CN222618740U
,2025-03-14
←
1
2
3
4
5
→