老化测试电路、老化测试系统及老化测试方法

被引：0

申请号：

CN202210187762.1

申请日：

2022-02-28

公开(公告)号：

CN114660379A

公开(公告)日：

2022-06-24

发明(设计)人：

郝懿

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区西丽留仙洞中山园路1001号TCL国际E城F5栋3B

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

G01R104

代理机构：

广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205

代理人：

洪铭福

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-06-24	公开	公开
2022-07-12	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/00 申请日:20220228

共 50 条

[1]

老化测试电路、老化测试系统及老化测试方法 [P].

郝懿 .

中国专利 :CN114660379B ,2025-02-11

[2]

老化测试电路、老化测试装置以及老化测试系统 [P].

李坤 ;

徐勋明 ;

夏建平 ;

李小明 ;

余义江 .

中国专利 :CN216350966U ,2022-04-19

[3]

老化测试系统及老化测试方法 [P].

曾泉 ;

何海平 ;

苏鹏 ;

万聪颖 ;

赵悦斌 .

中国专利 :CN117471353A ,2024-01-30

[4]

老化测试箱及老化测试系统 [P].

陈剑晟 ;

沈冲 ;

王斌 ;

羡迪新 ;

陈驰 ;

高建辉 .

中国专利 :CN201716335U ,2011-01-19

[5]

芯片老化测试系统及老化测试方法 [P].

朱兵兵 ;

郭磊 ;

董国庆 ;

文国昇 ;

金从龙 .

中国专利 :CN120703553A ,2025-09-26

[6]

老化测试机及老化测试系统 [P].

刘超 .

中国专利 :CN207215920U ,2018-04-10

[7]

老化测试系统及其批量老化测试方法 [P].

颜红华 .

中国专利 :CN119667449A ,2025-03-21

[8]

芯片老化测试电路和芯片老化测试系统 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

刘冲 .

中国专利 :CN113064052B ,2025-02-11

[9]

芯片老化测试电路和芯片老化测试系统 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

刘冲 .

中国专利 :CN113064052A ,2021-07-02

[10]

自动老化测试系统及自动老化测试方法 [P].

陈冠楠 ;

邹坤 ;

周仁标 .

中国专利 :CN118594949A ,2024-09-06

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