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芯片老化测试电路和芯片老化测试系统
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202110317639.2
申请日：
2021-03-24
公开(公告)号：
CN113064052A
公开(公告)日：
2021-07-02
发明(设计)人：
孙成思
孙日欣
刘冲
申请人：
申请人地址：
518000 广东省深圳市南山区桃源街道同富裕工业城4号厂房1楼、2楼、4楼、5楼
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
G01R104
代理机构：
深圳市华勤知识产权代理事务所(普通合伙) 44426
代理人：
隆毅
法律状态：
著录事项变更
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-06-17 | 著录事项变更 | 著录事项变更 IPC(主分类):G01R 31/28 变更事项:申请人 变更前:深圳佰维存储科技股份有限公司 变更后:深圳佰维存储科技股份有限公司 变更事项:地址 变更前:518000 广东省深圳市南山区桃源街道同富裕工业城4号厂房1楼、2楼、4楼、5楼 变更后:518000 广东省深圳市南山区桃源街道平山社区留仙大道1213号众冠红花岭工业南区2区4、8栋1层-3层及4栋4层 |
| 2021-07-02 | 公开 | 公开 |
| 2021-07-20 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20210324 |