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老化板及芯片老化测试系统
被引：0
申请号：
CN202222598976.6
申请日：
2022-09-29
公开(公告)号：
CN218445837U
公开(公告)日：
2023-02-03
发明(设计)人：
王祺
曹巍
申请人：
申请人地址：
201314 上海市浦东新区良腾路6号
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
G01R104
代理机构：
上海思捷知识产权代理有限公司 31295
代理人：
许静
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2023-02-03 | 授权 | 授权 |