芯片老化测试电路和芯片老化测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110317639.2

申请日：

2021-03-24

公开(公告)号：

CN113064052B

公开(公告)日：

2025-02-11

发明(设计)人：

孙成思孙日欣刘冲

申请人：

深圳佰维存储科技股份有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区桃源街道平山社区留仙大道1213号众冠红花岭工业南区2区4、8栋1层-3层及4栋4层

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R1/04

代理机构：

深圳市华勤知识产权代理事务所(普通合伙) 44426

代理人：

隆毅

法律状态：

授权

国省代码：

广东省深圳市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-11	授权	授权

共 50 条

[1]

芯片老化测试电路和芯片老化测试系统 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

刘冲 .

中国专利 :CN113064052A ,2021-07-02

[2]

芯片老化测试系统 [P].

王晓波 ;

沈晨烨 .

中国专利 :CN120652268A ,2025-09-16

[3]

芯片老化测试系统及老化测试方法 [P].

朱兵兵 ;

郭磊 ;

董国庆 ;

文国昇 ;

金从龙 .

中国专利 :CN120703553A ,2025-09-26

[4]

老化测试电路、方法和芯片 [P].

李明军 ;

杨士宁 ;

张鹏 ;

高国重 ;

陈华军 .

中国专利 :CN119335352A ,2025-01-21

[5]

老化板及芯片老化测试系统 [P].

王祺 ;

曹巍 .

中国专利 :CN218445837U ,2023-02-03

[6]

芯片老化测试系统、方法及装置 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN110716126A ,2020-01-21

[7]

激光芯片老化测试系统 [P].

安海岩 ;

王威 ;

徐豪 .

中国专利 :CN212567879U ,2021-02-19

[8]

老化电路、芯片老化测试方法及芯片 [P].

王辉 ;

李建波 ;

赵来钖 .

中国专利 :CN114076883A ,2022-02-22

[9]

一种芯片的老化测试系统和老化测试的方法 [P].

马智东 ;

王雨聪 .

中国专利 :CN120032697A ,2025-05-23

[10]

一种芯片老化测试系统 [P].

黄林 ;

朱祥 .

中国专利 :CN201096847Y ,2008-08-06

← 1 2 3 4 5 →