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芯片老化测试系统及老化测试方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202511026874.9
申请日：
2025-07-24
公开(公告)号：
CN120703553A
公开(公告)日：
2025-09-26
发明(设计)人：
朱兵兵
郭磊
董国庆
文国昇
金从龙
申请人：
江西耀驰科技有限公司
江西兆驰半导体有限公司
申请人地址：
330000 江西省南昌市南昌高新技术产业开发区天祥北大道1717号第2层
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
G01R1/28
代理机构：
广州三环专利商标代理有限公司 44202
代理人：
李素兰
法律状态：
公开
国省代码：
河北省
保定市
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2025-09-26 | 公开 | 公开 |
| 2025-10-17 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20250724 |