老化测试系统及老化测试方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202311554451.5
申请日
2023-11-17
公开(公告)号
CN117471353A
公开(公告)日
2024-01-30
发明(设计)人
曾泉 何海平 苏鹏 万聪颖 赵悦斌
申请人
天芯互联科技有限公司
申请人地址
518000 广东省深圳市龙岗区坪地街道高桥社区环坪路3号101
IPC主分类号
G01R31/40
IPC分类号
代理机构
深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280
代理人
黎坚怡
法律状态
实质审查的生效
国省代码
广东省 深圳市
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共 50 条
[1]
老化测试电路、老化测试系统及老化测试方法 [P]. 
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中国专利 :CN114660379A ,2022-06-24
[2]
老化测试电路、老化测试系统及老化测试方法 [P]. 
郝懿 .
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[3]
芯片老化测试系统及老化测试方法 [P]. 
朱兵兵 ;
郭磊 ;
董国庆 ;
文国昇 ;
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[4]
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沈冲 ;
王斌 ;
羡迪新 ;
陈驰 ;
高建辉 .
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[5]
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[6]
自动老化测试系统及自动老化测试方法 [P]. 
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邹坤 ;
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[7]
老化测试系统 [P]. 
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简维廷 ;
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[8]
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[9]
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[10]
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刘鹏飞 ;
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