老化测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200910196931.2

申请日：

2009-10-09

公开(公告)号：

CN102043100B

公开(公告)日：

2011-05-04

发明(设计)人：

张荣哲简维廷江顺旺

申请人：

申请人地址：

201203 上海市浦东新区张江路18号

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

G01R102

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司 11227

代理人：

李丽

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-03-06	授权	授权
2011-05-04	公开	公开
2011-06-15	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101080107870 IPC(主分类):G01R 31/00 专利申请号:2009101969312 申请日:20091009
2012-11-28	专利申请权、专利权的转移	专利申请权的转移专利申请号:2009101969312 变更事项:申请人变更前权利人:中芯国际集成电路制造(上海)有限公司变更后权利人:中芯国际集成电路制造(上海)有限公司变更事项:地址变更前权利人:201203 上海市浦东新区张江路18号变更后权利人:201203 上海市浦东新区张江路18号变更事项:申请人变更前权利人:无变更后权利人:中芯国际集成电路制造(北京)有限公司登记生效日:20121031 号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101476550976 IPC(主分类):G01R 31/00
2020-09-25	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/00 申请日:20091009 授权公告日:20130306 终止日期:20191009

共 50 条

[1]

老化测试系统及老化测试方法 [P].

曾泉 ;

何海平 ;

苏鹏 ;

万聪颖 ;

赵悦斌 .

中国专利 :CN117471353A ,2024-01-30

[2]

老化测试电路、老化测试系统及老化测试方法 [P].

郝懿 .

中国专利 :CN114660379A ,2022-06-24

[3]

老化测试电路、老化测试系统及老化测试方法 [P].

郝懿 .

中国专利 :CN114660379B ,2025-02-11

[4]

老化测试箱及老化测试系统 [P].

陈剑晟 ;

沈冲 ;

王斌 ;

羡迪新 ;

陈驰 ;

高建辉 .

中国专利 :CN201716335U ,2011-01-19

[5]

老化测试机及老化测试系统 [P].

刘超 .

中国专利 :CN207215920U ,2018-04-10

[6]

老化板检测设备及老化测试系统 [P].

孙亚 .

中国专利 :CN222379825U ,2025-01-21

[7]

老化测试系统 [P].

徐有运 .

中国专利 :CN1566980A ,2005-01-19

[8]

老化测试系统 [P].

王斌 ;

沈冲 ;

陈剑晟 ;

羡迪新 ;

陈驰 ;

高建辉 .

中国专利 :CN201716396U ,2011-01-19

[9]

老化测试系统 [P].

刘诗平 ;

朱民庆 .

中国专利 :CN203085128U ,2013-07-24

[10]

老化测试系统 [P].

李义隆 .

中国专利 :CN2872371Y ,2007-02-21

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