老化测试箱及老化测试系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201020207498.6

申请日：

2010-05-27

公开(公告)号：

CN201716335U

公开(公告)日：

2011-01-19

发明(设计)人：

陈剑晟沈冲王斌羡迪新陈驰高建辉

申请人：

申请人地址：

100088 北京市海淀区北三环中路31号3号办公楼

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

G01R3128 G01R3126

代理机构：

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法律状态：

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国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2011-01-19	授权	授权
2020-06-19	专利权的终止	专利权有效期届满 IPC(主分类):G01R 1/04 申请日:20100527 授权公告日:20110119

共 50 条

[1]

老化测试机及老化测试系统 [P].

刘超 .

中国专利 :CN207215920U ,2018-04-10

[2]

老化测试箱 [P].

羡迪新 ;

沈冲 ;

王斌 ;

陈剑晟 ;

陈驰 ;

高建辉 .

中国专利 :CN201716395U ,2011-01-19

[3]

老化测试电路、老化测试系统及老化测试方法 [P].

郝懿 .

中国专利 :CN114660379A ,2022-06-24

[4]

老化测试电路、老化测试系统及老化测试方法 [P].

郝懿 .

中国专利 :CN114660379B ,2025-02-11

[5]

老化测试系统及老化测试方法 [P].

曾泉 ;

何海平 ;

苏鹏 ;

万聪颖 ;

赵悦斌 .

中国专利 :CN117471353A ,2024-01-30

[6]

老化板及芯片老化测试系统 [P].

王祺 ;

曹巍 .

中国专利 :CN218445837U ,2023-02-03

[7]

老化测试系统 [P].

王斌 ;

沈冲 ;

陈剑晟 ;

羡迪新 ;

陈驰 ;

高建辉 .

中国专利 :CN201716396U ,2011-01-19

[8]

老化测试系统 [P].

沈冲 ;

陈剑晟 ;

王斌 ;

羡迪新 ;

陈驰 ;

高建辉 .

中国专利 :CN201716331U ,2011-01-19

[9]

芯片老化测试系统及老化测试方法 [P].

朱兵兵 ;

郭磊 ;

董国庆 ;

文国昇 ;

金从龙 .

中国专利 :CN120703553A ,2025-09-26

[10]

环境箱及老化测试系统 [P].

曾泉 ;

何海平 ;

苏鹏 ;

杜韦慷 ;

周德祥 .

中国专利 :CN117849564A ,2024-04-09

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