一种时空联合调制干涉成像光谱仪姿态误差校正方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201210393911.6

申请日：

2012-10-17

公开(公告)号：

CN102944308A

公开(公告)日：

2013-02-27

发明(设计)人：

袁艳李妍黄锋振

申请人：

申请人地址：

100191 北京市海淀区学院路37号

IPC主分类号：

G01J345

IPC分类号：

代理机构：

北京永创新实专利事务所 11121

代理人：

赵文利

法律状态：

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国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-07-09	授权	授权
2013-02-27	公开	公开
2013-04-03	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101425918903 IPC(主分类):G01J 3/45 专利申请号:2012103939116 申请日:20121017

共 50 条

[41]

一种光谱仪及其校正方法 [P].

潘建根 .

中国专利 :CN105938013B ,2016-09-14

[42]

一种光谱仪及其校正方法 [P].

潘建根 ;

沈海平 .

中国专利 :CN101354287A ,2009-01-28

[43]

一种短中波红外干涉成像光谱仪大视场扫描干涉成像系统 [P].

陈宇鹏 ;

吕金光 ;

梁静秋 ;

赵莹泽 ;

赵百轩 ;

郑凯丰 ;

秦余欣 ;

王惟彪 .

中国专利 :CN118294018A ,2024-07-05

[44]

红外偏振干涉成像光谱仪及制作方法 [P].

梁中翥 ;

陶金 ;

梁静秋 ;

孟德佳 ;

吕金光 ;

王维彪 ;

秦余欣 .

中国专利 :CN108180993A ,2018-06-19

[45]

可校正谱线弯曲的成像光谱仪系统及其校正方法 [P].

巩岩 ;

陈洪福 ;

刘壮 .

中国专利 :CN104034419A ,2014-09-10

[46]

快照式成像光谱仪光斑阵列精确位置校正方法 [P].

杨晋 ;

王明佳 ;

冯树龙 ;

陈佳奇 ;

孙慈 ;

宋楠 ;

赵梓彤 ;

于昌本 ;

王添一 .

中国专利 :CN113075135B ,2021-07-06

[47]

一种数字微镜阵列与外差干涉联合调制的光谱仪 [P].

罗海燕 ;

熊伟 ;

施海亮 ;

李志伟 .

中国专利 :CN108627248B ,2018-10-09

[48]

光谱仪杂散光校正方法 [P].

潘建根 ;

陈双 ;

李倩 .

中国专利 :CN101813519A ,2010-08-25

[49]

一种近场步进扫描成像光谱仪的数据处理方法 [P].

廉玉生 ;

刘瑜 ;

黄敏 ;

徐艳芳 ;

金杨 .

中国专利 :CN105551023A ,2016-05-04

[50]

一种双通道差分偏振干涉成像光谱仪 [P].

张淳民 ;

穆廷魁 ;

高宏文 ;

任文艺 ;

代海山 .

中国专利 :CN102297722B ,2011-12-28

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