一种芯片测试分选装置

被引：0

申请号：

CN202222828897.X

申请日：

2022-10-26

公开(公告)号：

CN218360728U

公开(公告)日：

2023-01-24

发明(设计)人：

魏瑜

申请人：

申请人地址：

343000 江西省吉安市井冈山经济技术开发区南塘路268号6幢厂房

IPC主分类号：

B07C502

IPC分类号：

B07C534 B07C536

代理机构：

南昌合达信知识产权代理事务所(普通合伙) 36142

代理人：

黄晓滨

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-01-24	授权	授权

共 50 条

[1]

一种芯片测试分选装置 [P].

杨荣辉 ;

陆小艺 .

中国专利 :CN222220377U ,2024-12-24

[2]

一种芯片测试分选装置 [P].

陈钢全 ;

朱海马 ;

王成欣 ;

尚利 .

中国专利 :CN222710248U ,2025-04-04

[3]

一种芯片测试分选装置 [P].

徐辉 ;

廖志国 ;

李斌 .

中国专利 :CN220658415U ,2024-03-26

[4]

一种芯片测试分选装置 [P].

李维繁星 ;

张春霞 .

中国专利 :CN221046696U ,2024-05-31

[5]

一种芯片测试分选装置 [P].

刘钢 ;

曾剑敏 .

中国专利 :CN222343497U ,2025-01-14

[6]

一种芯片测试分选装置 [P].

李双成 ;

张传益 ;

马海龙 ;

曾润达 ;

辜诗涛 .

中国专利 :CN216622588U ,2022-05-27

[7]

一种芯片测试分选装置 [P].

黎城镇 ;

王丽冬 .

中国专利 :CN220329326U ,2024-01-12

[8]

一种芯片测试分选装置 [P].

李强 ;

余文武 ;

毛志信 .

中国专利 :CN221086411U ,2024-06-07

[9]

一种芯片测试分选装置 [P].

贾金林 ;

贾金坤 ;

钟春玲 .

中国专利 :CN221414065U ,2024-07-26

[10]

一种芯片测试分选装置 [P].

牛瑞彬 ;

王西恩 .

中国专利 :CN220691970U ,2024-03-29

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