光学元件的检查装置和光学元件的检查方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN02142775.5

申请日：

2002-09-19

公开(公告)号：

CN1220905C

公开(公告)日：

2003-03-26

发明(设计)人：

北林雅志高户雄二

申请人：

申请人地址：

日本东京

IPC主分类号：

G02B2762

IPC分类号：

G02B2718 G01B1126

代理机构：

北京市中咨律师事务所

代理人：

段承恩;李峥

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2005-09-28	授权	授权
2003-05-28	实质审查的生效	实质审查的生效
2018-09-04	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G02B 27/62 申请日:20020919 授权公告日:20050928 终止日期:20170919
2003-06-04	实质审查的生效	实质审查的生效
2003-03-26	公开	公开

共 50 条

[1]

照明光学元件检查装置及照明光学元件检查方法 [P].

北林雅志 .

中国专利 :CN1215318C ,2003-03-12

[2]

光学元件检查设备 [P].

庄添财 .

中国专利 :CN109490329A ,2019-03-19

[3]

光学元件、光学元件的制造方法和光学装置 [P].

平田浩二 ;

峰邑浩行 ;

安斋由美子 ;

西田哲也 ;

山本治朗 ;

小藤直行 ;

池田英博 ;

木村展之 .

中国专利 :CN104395785B ,2015-03-04

[4]

光学检查装置和光学检查方法 [P].

李炯珍 .

韩国专利 :CN118533852A ,2024-08-23

[5]

用于检测增材制造设备的光学元件的异常的检查装置和检查方法 [P].

菲利普·罗泽 ;

简·帕维丽塔 .

德国专利 :CN121100037A ,2025-12-09

[6]

光学元件的制造方法、光学元件和用于制造光学元件的装置 [P].

米哈伊尔·埃尔德马尼斯 .

中国专利 :CN115698779A ,2023-02-03

[7]

光学元件和制造光学元件的方法 [P].

远藤惣铭 ;

林部和弥 .

中国专利 :CN102004271A ,2011-04-06

[8]

光学元件和光学元件的制备方法 [P].

阿部庆子 ;

中山宽晴 .

中国专利 :CN105652351A ,2016-06-08

[9]

光学元件和光学元件的制造方法 [P].

内田裕久 .

中国专利 :CN110927832A ,2020-03-27

[10]

光学元件的成形方法和光学元件 [P].

细江秀 ;

名古屋浩 .

中国专利 :CN1769223B ,2006-05-10

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