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光学三维测量系统
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202010255457.2
申请日
:
2020-04-02
公开(公告)号
:
CN111307068A
公开(公告)日
:
2020-06-19
发明(设计)人
:
方仲平
吴友仁
申请人
:
申请人地址
:
215000 江苏省苏州市中国(江苏)自由贸易试验区苏州片区苏州工业园区星湖街328号创意产业园4-B801单元
IPC主分类号
:
G01B1125
IPC分类号
:
代理机构
:
苏州通途佳捷专利代理事务所(普通合伙) 32367
代理人
:
李阳
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-06-19
公开
公开
2020-07-14
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/25 申请日:20200402
共 50 条
[1]
光学三维测量系统
[P].
方仲平
论文数:
0
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0
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0
方仲平
;
吴友仁
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吴友仁
.
中国专利
:CN212058670U
,2020-12-01
[2]
光学三维测量系统
[P].
方仲平
论文数:
0
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0
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0
机构:
元素光电智能科技(苏州)有限公司
元素光电智能科技(苏州)有限公司
方仲平
;
吴友仁
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0
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机构:
元素光电智能科技(苏州)有限公司
元素光电智能科技(苏州)有限公司
吴友仁
.
中国专利
:CN111307068B
,2025-02-25
[3]
可重构大尺寸条纹投射光学三维测量系统
[P].
论文数:
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机构:
赵慧洁
;
论文数:
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机构:
唐勇
;
论文数:
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机构:
姜宏志
;
论文数:
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机构:
李旭东
.
中国专利
:CN119022826A
,2024-11-26
[4]
三维测量系统
[P].
余良彬
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余良彬
;
林栋
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林栋
;
蔡知典
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蔡知典
.
中国专利
:CN103528541B
,2014-01-22
[5]
三维测量系统
[P].
钟若飞
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钟若飞
;
宫辉力
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宫辉力
;
王留召
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王留召
;
刘先林
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刘先林
.
中国专利
:CN102338617B
,2012-02-01
[6]
三维测量系统
[P].
韦争亮
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韦争亮
;
古耀达
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古耀达
;
黄志斌
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黄志斌
;
林冬青
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林冬青
;
吴菁
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吴菁
;
代鲲鹏
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代鲲鹏
;
程志刚
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程志刚
.
中国专利
:CN203704883U
,2014-07-09
[7]
光学三维测量仪
[P].
何万涛
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何万涛
;
程俊廷
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程俊廷
;
赵灿
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赵灿
;
谢雪冬
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谢雪冬
.
中国专利
:CN300899849D
,2009-04-01
[8]
三维测量系统和三维测量方法
[P].
田村仁
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田村仁
;
山形智生
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山形智生
;
栗原健人
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栗原健人
;
外川阳一
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外川阳一
.
中国专利
:CN113330277B
,2021-08-31
[9]
三维测量系统及三维测量方法
[P].
太田润
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太田润
;
松本慎也
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松本慎也
;
木口哲也
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木口哲也
.
中国专利
:CN113748313A
,2021-12-03
[10]
三维测量系统与三维测量方法
[P].
余良彬
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余良彬
;
林栋
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林栋
.
中国专利
:CN103376071B
,2013-10-30
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