光学三维测量系统

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010255457.2
申请日
2020-04-02
公开(公告)号
CN111307068A
公开(公告)日
2020-06-19
发明(设计)人
方仲平 吴友仁
申请人
申请人地址
215000 江苏省苏州市中国(江苏)自由贸易试验区苏州片区苏州工业园区星湖街328号创意产业园4-B801单元
IPC主分类号
G01B1125
IPC分类号
代理机构
苏州通途佳捷专利代理事务所(普通合伙) 32367
代理人
李阳
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
光学三维测量系统 [P]. 
方仲平 ;
吴友仁 .
中国专利 :CN212058670U ,2020-12-01
[2]
光学三维测量系统 [P]. 
方仲平 ;
吴友仁 .
中国专利 :CN111307068B ,2025-02-25
[3]
可重构大尺寸条纹投射光学三维测量系统 [P]. 
赵慧洁 ;
唐勇 ;
姜宏志 ;
李旭东 .
中国专利 :CN119022826A ,2024-11-26
[4]
三维测量系统 [P]. 
余良彬 ;
林栋 ;
蔡知典 .
中国专利 :CN103528541B ,2014-01-22
[5]
三维测量系统 [P]. 
钟若飞 ;
宫辉力 ;
王留召 ;
刘先林 .
中国专利 :CN102338617B ,2012-02-01
[6]
三维测量系统 [P]. 
韦争亮 ;
古耀达 ;
黄志斌 ;
林冬青 ;
吴菁 ;
代鲲鹏 ;
程志刚 .
中国专利 :CN203704883U ,2014-07-09
[7]
光学三维测量仪 [P]. 
何万涛 ;
程俊廷 ;
赵灿 ;
谢雪冬 .
中国专利 :CN300899849D ,2009-04-01
[8]
三维测量系统和三维测量方法 [P]. 
田村仁 ;
山形智生 ;
栗原健人 ;
外川阳一 .
中国专利 :CN113330277B ,2021-08-31
[9]
三维测量系统及三维测量方法 [P]. 
太田润 ;
松本慎也 ;
木口哲也 .
中国专利 :CN113748313A ,2021-12-03
[10]
三维测量系统与三维测量方法 [P]. 
余良彬 ;
林栋 .
中国专利 :CN103376071B ,2013-10-30