光学三维测量仪

被引:0
专利类型
外观设计
申请号
CN200830101895.3
申请日
2008-02-22
公开(公告)号
CN300899849D
公开(公告)日
2009-04-01
发明(设计)人
何万涛 程俊廷 赵灿 谢雪冬
申请人
申请人地址
150027黑龙江省哈尔滨市松北区糖厂街1号
IPC主分类号
1004
IPC分类号
代理机构
深圳市智科友专利商标事务所
代理人
曲家彬
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
光学三维测量仪的检查校准用部件 [P]. 
浅沼进 .
中国专利 :CN301294210S ,2010-07-28
[2]
光学三维测量系统 [P]. 
方仲平 ;
吴友仁 .
中国专利 :CN212058670U ,2020-12-01
[3]
光学三维测量系统 [P]. 
方仲平 ;
吴友仁 .
中国专利 :CN111307068B ,2025-02-25
[4]
光学三维测量系统 [P]. 
方仲平 ;
吴友仁 .
中国专利 :CN111307068A ,2020-06-19
[5]
一种光学三维测量设备 [P]. 
徐治康 .
中国专利 :CN216694855U ,2022-06-07
[6]
一种光学三维测量设备 [P]. 
许建辉 .
中国专利 :CN205580386U ,2016-09-14
[7]
一种非接触光学三维测量装置 [P]. 
姜寿山 ;
石美红 ;
雷志勇 ;
王悦 .
中国专利 :CN206573080U ,2017-10-20
[8]
一种全自动光学三维测量设备 [P]. 
许建辉 .
中国专利 :CN205580388U ,2016-09-14
[9]
光学三维测量用高精密组合光栅器件 [P]. 
严隽琪 ;
习俊通 ;
姜涛 .
中国专利 :CN1554925A ,2004-12-15
[10]
工业光学三维坐标测量设备的相机三维调节装置 [P]. 
刘建立 ;
梁晋 ;
张龙 ;
魏耀威 ;
刘小波 ;
陈广飞 .
中国专利 :CN203432534U ,2014-02-12