光学三维测量用高精密组合光栅器件

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200310122729.8

申请日：

2003-12-19

公开(公告)号：

CN1554925A

公开(公告)日：

2004-12-15

发明(设计)人：

严隽琪习俊通姜涛

申请人：

申请人地址：

200240上海市闵行区东川路800号

IPC主分类号：

G01B1124

IPC分类号：

代理机构：

上海交达专利事务所

代理人：

周文娟

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2005-02-16	实质审查的生效	实质审查的生效
2004-12-15	公开	公开
2011-03-09	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101055734945 IPC(主分类):G02B 5/18 专利号:ZL2003101227298 申请日:20031219 授权公告日:20070117 终止日期:20100119
2007-01-17	授权	授权

共 50 条

[1]

一种用于光学三维测量的光栅器件 [P].

车向前 ;

边莉 ;

杨桂林 .

中国专利 :CN201163313Y ,2008-12-10

[2]

光学三维测量系统 [P].

方仲平 ;

吴友仁 .

中国专利 :CN212058670U ,2020-12-01

[3]

光学三维测量系统 [P].

方仲平 ;

吴友仁 .

中国专利 :CN111307068B ,2025-02-25

[4]

光学三维测量系统 [P].

方仲平 ;

吴友仁 .

中国专利 :CN111307068A ,2020-06-19

[5]

光学三维测量仪 [P].

何万涛 ;

程俊廷 ;

赵灿 ;

谢雪冬 .

中国专利 :CN300899849D ,2009-04-01

[6]

一种光学三维测量设备 [P].

徐治康 .

中国专利 :CN216694855U ,2022-06-07

[7]

一种光学三维测量设备 [P].

许建辉 .

中国专利 :CN205580386U ,2016-09-14

[8]

光学三维测量仪的检查校准用部件 [P].

浅沼进 .

中国专利 :CN301294210S ,2010-07-28

[9]

基于双频相位编码的光学三维测量方法 [P].

伏燕军 ;

桂建楠 ;

韩勇华 ;

张鹏飞 ;

田诗扬 .

中国专利 :CN112880589B ,2021-06-01

[10]

三维测量装置、三维测量方法 [P].

田端伸章 .

中国专利 :CN112567199B ,2021-03-26

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