试样分析用基板、试样分析装置、试样分析系统和记录介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201680076630.4

申请日：

2016-12-22

公开(公告)号：

CN108431610B

公开(公告)日：

2018-08-21

发明(设计)人：

冈本房俊城野政博

申请人：

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G01N3500

IPC分类号：

G01N33543 G01N3700

代理机构：

北京市中咨律师事务所 11247

代理人：

段承恩;杨光军

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-04-05	授权	授权
2018-08-21	公开	公开
2018-11-23	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 35/00 申请日:20161222

共 50 条

[1]

试样分析用基板、试样分析装置、试样分析系统和试样分析系统用程序 [P].

冈本房俊 ;

城野政博 .

中国专利 :CN108431609A ,2018-08-21

[2]

试样分析用基板、试样分析装置、试样分析系统以及试样分析系统用程序 [P].

冈本房俊 ;

城野政博 .

中国专利 :CN107209193B ,2017-09-26

[3]

试样分析用基板和试样分析装置 [P].

佐伯将之 ;

城野政博 ;

冈本房俊 ;

近藤和也 .

中国专利 :CN106662596A ,2017-05-10

[4]

试样分析用基板、试样分析装置、试样分析系统及试样分析装置的控制方法 [P].

佐伯博司 ;

桃井香充 .

日本专利 :CN111602058B ,2024-05-10

[5]

试样分析用基板、试样分析装置、试样分析系统及试样分析装置的控制方法 [P].

佐伯博司 ;

桃井香充 .

中国专利 :CN111602058A ,2020-08-28

[6]

试样分析装置和试样分析方法 [P].

稻叶亨 ;

松冈晋弥 ;

坂诘卓 ;

山下善宽 ;

岛田贤史 ;

小木修 ;

原田裕至 .

中国专利 :CN102933967B ,2013-02-13

[7]

试样分析装置和试样分析方法 [P].

松本大辅 ;

中山雄介 .

中国专利 :CN102338768B ,2012-02-01

[8]

试样分析方法和试样分析装置 [P].

大沼直嗣 .

日本专利 :CN119178743A ,2024-12-24

[9]

试样分析装置以及试样分析方法 [P].

稻叶亨 ;

松冈晋弥 ;

坂诘卓 ;

山下善宽 ;

岛田贤史 .

中国专利 :CN104067123A ,2014-09-24

[10]

试样分析用盘片及试样分析装置 [P].

冈田谦二 ;

村上健二 .

中国专利 :CN1620610A ,2005-05-25

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