试样分析装置以及试样分析方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201280064944.4

申请日：

2012-12-14

公开(公告)号：

CN104067123A

公开(公告)日：

2014-09-24

发明(设计)人：

稻叶亨松冈晋弥坂诘卓山下善宽岛田贤史

申请人：

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G01N33543

IPC分类号：

G01N33553 G01N3700

代理机构：

北京银龙知识产权代理有限公司 11243

代理人：

钟晶;於毓桢

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-09-24	公开	公开
2016-02-17	授权	授权
2014-10-22	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101587749376 IPC(主分类):G01N 33/543 专利申请号:2012800649444 申请日:20121214

共 50 条

[1]

试样分析装置以及试样分析方法 [P].

清水雅人 ;

竹原久人 ;

杉江允由 .

日本专利 :CN119757771A ,2025-04-04

[2]

试样分析装置和试样分析方法 [P].

稻叶亨 ;

松冈晋弥 ;

坂诘卓 ;

山下善宽 ;

岛田贤史 ;

小木修 ;

原田裕至 .

中国专利 :CN102933967B ,2013-02-13

[3]

试样分析装置 [P].

伊藤寿 ;

杉村祯昭 .

日本专利 :CN119032277A ,2024-11-26

[4]

试样分析装置以及试样分析装置的控制方法 [P].

上田诚 ;

若宫裕二 ;

福寿利胜 .

中国专利 :CN103033633A ,2013-04-10

[5]

试样分析用基板、试样分析装置、试样分析系统以及试样分析系统用程序 [P].

冈本房俊 ;

城野政博 .

中国专利 :CN107209193B ,2017-09-26

[6]

试样分析芯片、采用该试样分析芯片的试样分析装置和试样分析方法、以及试样分析芯片的制造方法 [P].

小泽知之 ;

西嶋奈绪 ;

殷明 .

中国专利 :CN102369443A ,2012-03-07

[7]

试样分析方法及试样分析装置 [P].

山本典正 ;

松尾直彦 .

中国专利 :CN102519887B ,2012-06-27

[8]

试样分析装置及试样分析方法 [P].

芝正树 ;

西田智幸 ;

若宫裕二 .

中国专利 :CN103217536A ,2013-07-24

[9]

试样分析装置及试样分析方法 [P].

小西雄介 ;

山田和宏 ;

松本翔平 .

中国专利 :CN109387492A ,2019-02-26

[10]

试样分析方法及试样分析装置 [P].

川相拓司 .

中国专利 :CN1875267A ,2006-12-06

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