试样分析芯片、采用该试样分析芯片的试样分析装置和试样分析方法、以及试样分析芯片的制造方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201080014320.2

申请日：

2010-03-30

公开(公告)号：

CN102369443A

公开(公告)日：

2012-03-07

发明(设计)人：

小泽知之西嶋奈绪殷明

申请人：

申请人地址：

日本国东京都

IPC主分类号：

G01N3500

IPC分类号：

C12M100 C12Q168 G01N3700

代理机构：

隆天国际知识产权代理有限公司 72003

代理人：

崔香丹;洪燕

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2012-03-07	公开	公开
2015-08-19	授权	授权
2012-04-18	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101227123395 IPC(主分类):G01N 35/00 专利申请号:2010800143202 申请日:20100330

共 50 条

[1]

试样分析装置以及试样分析方法 [P].

稻叶亨 ;

松冈晋弥 ;

坂诘卓 ;

山下善宽 ;

岛田贤史 .

中国专利 :CN104067123A ,2014-09-24

[2]

试样分析装置以及试样分析方法 [P].

清水雅人 ;

竹原久人 ;

杉江允由 .

日本专利 :CN119757771A ,2025-04-04

[3]

试样分析装置和试样分析方法 [P].

稻叶亨 ;

松冈晋弥 ;

坂诘卓 ;

山下善宽 ;

岛田贤史 ;

小木修 ;

原田裕至 .

中国专利 :CN102933967B ,2013-02-13

[4]

试样分析装置和试样分析方法 [P].

松本大辅 ;

中山雄介 .

中国专利 :CN102338768B ,2012-02-01

[5]

试样分析方法和试样分析装置 [P].

大沼直嗣 .

日本专利 :CN119178743A ,2024-12-24

[6]

试样分析用基板、试样分析装置、试样分析系统及试样分析装置的控制方法 [P].

佐伯博司 ;

桃井香充 .

日本专利 :CN111602058B ,2024-05-10

[7]

试样分析用基板、试样分析装置、试样分析系统及试样分析装置的控制方法 [P].

佐伯博司 ;

桃井香充 .

中国专利 :CN111602058A ,2020-08-28

[8]

试样分析方法及试样分析装置 [P].

山本典正 ;

松尾直彦 .

中国专利 :CN102519887B ,2012-06-27

[9]

试样分析装置及试样分析方法 [P].

芝正树 ;

西田智幸 ;

若宫裕二 .

中国专利 :CN103217536A ,2013-07-24

[10]

试样分析装置及试样分析方法 [P].

小西雄介 ;

山田和宏 ;

松本翔平 .

中国专利 :CN109387492A ,2019-02-26

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