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一种电子元器件质量检测装置
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202010830882.X
申请日：
2020-08-18
公开(公告)号：
CN111999582A
公开(公告)日：
2020-11-27
发明(设计)人：
何茂香
申请人：
申请人地址：
510080 广东省广州市白云区东华工业区东景路1号2号楼503室
IPC主分类号：
G01R3100
IPC分类号：
G01R102
B65G4780
B65G4774
代理机构：
代理人：
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2020-11-27 | 公开 | 公开 |
| 2020-12-15 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/00 申请日:20200818 |