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一种电子元器件质量检测方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202411900583.3
申请日
:
2024-12-23
公开(公告)号
:
CN119688004B
公开(公告)日
:
2025-10-28
发明(设计)人
:
周克
杨兴国
苏婧
徐晓东
王体梅
申请人
:
深圳市启建时代科技有限公司
申请人地址
:
518118 广东省深圳市坪山区坪山街道六联社区坪山大道2007号创新广场裙楼236
IPC主分类号
:
G01D21/02
IPC分类号
:
G01N21/88
G01J1/00
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
公开
国省代码
:
广东省 深圳市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-03-25
公开
公开
2025-04-11
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01D 21/02申请日:20241223
2025-10-28
授权
授权
共 50 条
[1]
一种电子元器件质量检测方法
[P].
周克
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市启建时代科技有限公司
深圳市启建时代科技有限公司
周克
;
杨兴国
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机构:
深圳市启建时代科技有限公司
深圳市启建时代科技有限公司
杨兴国
;
苏婧
论文数:
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0
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0
机构:
深圳市启建时代科技有限公司
深圳市启建时代科技有限公司
苏婧
;
徐晓东
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0
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机构:
深圳市启建时代科技有限公司
深圳市启建时代科技有限公司
徐晓东
;
王体梅
论文数:
0
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0
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0
机构:
深圳市启建时代科技有限公司
深圳市启建时代科技有限公司
王体梅
.
中国专利
:CN119688004A
,2025-03-25
[2]
一种散热电子元器件质量检测装置
[P].
陈彬彬
论文数:
0
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0
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0
陈彬彬
.
中国专利
:CN213364604U
,2021-06-04
[3]
一种电子元器件质量检测装置
[P].
陈松林
论文数:
0
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0
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0
陈松林
;
余瑞雄
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0
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0
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0
余瑞雄
.
中国专利
:CN218272528U
,2023-01-10
[4]
一种电子元器件质量检测装置
[P].
陈经纬
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陈经纬
;
俞浩
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俞浩
;
吕纯
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吕纯
;
蒋甜
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蒋甜
;
吴浩
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0
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0
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0
吴浩
.
中国专利
:CN109060333B
,2018-12-21
[5]
一种电子元器件质量检测装置
[P].
何茂香
论文数:
0
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0
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0
何茂香
.
中国专利
:CN111999582A
,2020-11-27
[6]
一种电子元器件质量检测装置
[P].
马冉
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0
马冉
;
程俊铭
论文数:
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0
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0
程俊铭
.
中国专利
:CN218297219U
,2023-01-13
[7]
一种电子元器件质量检测设备
[P].
陈平章
论文数:
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机构:
邳州市安达电子有限公司
邳州市安达电子有限公司
陈平章
.
中国专利
:CN117361113A
,2024-01-09
[8]
一种电子元器件成品质量检测装置
[P].
肖杰
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肖杰
;
杨小英
论文数:
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杨小英
;
李海剑
论文数:
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0
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0
李海剑
.
中国专利
:CN209997970U
,2020-01-31
[9]
一种散热电子元器件质量检测装置
[P].
张学刚
论文数:
0
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0
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0
张学刚
.
中国专利
:CN217879285U
,2022-11-22
[10]
一种自动化电子元器件质量检测装置及检测方法
[P].
王大干
论文数:
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王大干
;
王宏刚
论文数:
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王宏刚
;
吴廷梅
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吴廷梅
;
李前程
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李前程
;
王小龙
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王小龙
;
周艳艳
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周艳艳
.
中国专利
:CN107505530A
,2017-12-22
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