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一种电子元器件质量检测设备
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202311039418.9
申请日
:
2023-08-17
公开(公告)号
:
CN117361113A
公开(公告)日
:
2024-01-09
发明(设计)人
:
陈平章
申请人
:
邳州市安达电子有限公司
申请人地址
:
221300 江苏省徐州市邳州市高新技术产业开发区太湖大道西侧、富美路南侧
IPC主分类号
:
B65G47/90
IPC分类号
:
B65C9/30
B65C9/02
B65C9/40
B08B5/02
代理机构
:
嘉兴倍创专利代理事务所(普通合伙) 33395
代理人
:
张淼
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
江苏省 徐州市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-01-26
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):B65G 47/90申请日:20230817
2024-01-09
公开
公开
2025-07-25
发明专利申请公布后的撤回
发明专利申请公布后的撤回IPC(主分类):B65G 47/90申请公布日:20240109
共 50 条
[1]
一种电子元器件检测设备
[P].
廖进
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
佛山市润泽电子有限公司
佛山市润泽电子有限公司
廖进
.
中国专利
:CN117602342A
,2024-02-27
[2]
一种电子元器件质量检测方法
[P].
周克
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市启建时代科技有限公司
深圳市启建时代科技有限公司
周克
;
杨兴国
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市启建时代科技有限公司
深圳市启建时代科技有限公司
杨兴国
;
苏婧
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市启建时代科技有限公司
深圳市启建时代科技有限公司
苏婧
;
徐晓东
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市启建时代科技有限公司
深圳市启建时代科技有限公司
徐晓东
;
王体梅
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市启建时代科技有限公司
深圳市启建时代科技有限公司
王体梅
.
中国专利
:CN119688004A
,2025-03-25
[3]
一种电子元器件质量检测方法
[P].
周克
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市启建时代科技有限公司
深圳市启建时代科技有限公司
周克
;
杨兴国
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市启建时代科技有限公司
深圳市启建时代科技有限公司
杨兴国
;
苏婧
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市启建时代科技有限公司
深圳市启建时代科技有限公司
苏婧
;
徐晓东
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市启建时代科技有限公司
深圳市启建时代科技有限公司
徐晓东
;
王体梅
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市启建时代科技有限公司
深圳市启建时代科技有限公司
王体梅
.
中国专利
:CN119688004B
,2025-10-28
[4]
一种电子元器件成品质量检测装置
[P].
肖杰
论文数:
0
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0
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0
肖杰
;
杨小英
论文数:
0
引用数:
0
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0
杨小英
;
李海剑
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李海剑
.
中国专利
:CN209997970U
,2020-01-31
[5]
一种电子元器件自动化生产线成品质量检测设备
[P].
柯云
论文数:
0
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0
h-index:
0
柯云
;
李超超
论文数:
0
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0
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0
李超超
;
胡记伟
论文数:
0
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0
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0
胡记伟
;
顾慎凯
论文数:
0
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0
h-index:
0
顾慎凯
.
中国专利
:CN215768829U
,2022-02-08
[6]
一种散热电子元器件质量检测装置
[P].
陈彬彬
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈彬彬
.
中国专利
:CN213364604U
,2021-06-04
[7]
一种电子元器件检测设备
[P].
夏彦婷
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
四川吉利学院
四川吉利学院
夏彦婷
;
王茜
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
四川吉利学院
四川吉利学院
王茜
;
张林
论文数:
0
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0
h-index:
0
机构:
四川吉利学院
四川吉利学院
张林
;
郭挺
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
四川吉利学院
四川吉利学院
郭挺
.
中国专利
:CN119354983A
,2025-01-24
[8]
一种电子元器件检测设备
[P].
高安湖
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京中旗方凯科技有限公司
北京中旗方凯科技有限公司
高安湖
.
中国专利
:CN121178474A
,2025-12-23
[9]
一种电子元器件检测设备
[P].
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
苏红卫
.
中国专利
:CN120446547A
,2025-08-08
[10]
一种电子元器件质量检测装置
[P].
陈松林
论文数:
0
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0
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0
陈松林
;
余瑞雄
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
余瑞雄
.
中国专利
:CN218272528U
,2023-01-10
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