基于共路并行荧光辐射差分的超分辨显微成像方法和装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011357705.0

申请日：

2020-11-27

公开(公告)号：

CN112649405B

公开(公告)日：

2021-04-13

发明(设计)人：

匡翠方张智敏黄宇然刘少聪刘旭

申请人：

申请人地址：

310058 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号

IPC主分类号：

G01N2164

IPC分类号：

G01J344 G02B2100

代理机构：

杭州求是专利事务所有限公司 33200

代理人：

刘静

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-04-30	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/64 申请日:20201127
2022-04-19	授权	授权
2021-04-13	公开	公开

共 50 条

[1]

一种高精度荧光调制超分辨显微成像方法 [P].

屈军乐 ;

刘东一 ;

王璐玮 ;

刘丽炜 ;

翁晓羽 ;

严伟 .

中国专利 :CN119470372A ,2025-02-18

[2]

一种高精度荧光调制超分辨显微成像方法 [P].

屈军乐 ;

刘东一 ;

王璐玮 ;

刘丽炜 ;

翁晓羽 ;

严伟 .

中国专利 :CN119470372B ,2025-06-06

[3]

基于荧光寿命差分的超分辨显微方法和装置 [P].

匡翠方 ;

郝翔 ;

李帅 ;

顾兆泰 ;

王轶凡 .

中国专利 :CN103048299A ,2013-04-17

[4]

一种共轴三维受激辐射损耗超分辨显微成像方法和装置 [P].

匡翠方 ;

刘少聪 ;

刘文杰 ;

陈友华 ;

朱大钊 ;

刘旭 ;

李海峰 ;

张克奇 ;

毛磊 .

中国专利 :CN107941763A ,2018-04-20

[5]

基于微波导的超分辨显微成像方法和装置 [P].

刘旭 ;

郝翔 ;

库玉龙 ;

匡翠方 .

中国专利 :CN102928384A ,2013-02-13

[6]

一种高通道荧光辐射差分显微成像方法和装置 [P].

刘勇 ;

丁晨良 ;

匡翠方 .

中国专利 :CN116337829B ,2025-08-29

[7]

基于移频的三维超分辨光切片荧光显微成像方法和装置 [P].

匡翠方 ;

张乘风 ;

陈宇宸 ;

徐良 ;

刘旭 ;

李海峰 ;

毛磊 ;

张克奇 .

中国专利 :CN109870441A ,2019-06-11

[8]

一种并行探测荧光发射差分显微成像的方法和装置 [P].

匡翠方 ;

陈宇宸 ;

张乘风 ;

徐良 ;

刘旭 ;

李海峰 .

中国专利 :CN110118726A ,2019-08-13

[9]

一种荧光成像方法、实时差分超分辨显微成像方法及装置 [P].

詹求强 ;

吴秋生 ;

黄冰如 ;

周超 ;

黄文雯 .

中国专利 :CN108776122B ,2018-11-09

[10]

一种基于空间光调制器的超分辨显微成像装置及方法 [P].

郭骥 ;

高峰 ;

高秀敏 ;

高梓恒 .

中国专利 :CN114280020A ,2022-04-05

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