一种共轴三维受激辐射损耗超分辨显微成像方法和装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201711025463.3

申请日：

2017-10-27

公开(公告)号：

CN107941763A

公开(公告)日：

2018-04-20

发明(设计)人：

匡翠方刘少聪刘文杰陈友华朱大钊刘旭李海峰张克奇毛磊

申请人：

申请人地址：

310013 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号

IPC主分类号：

G01N2164

IPC分类号：

代理机构：

杭州天勤知识产权代理有限公司 33224

代理人：

胡红娟

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-04-20	公开	公开
2018-05-15	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/64 申请日:20171027

共 50 条

[1]

一种受激辐射损耗方法、超分辨成像方法及显微成像装置 [P].

詹求强 ;

王保举 ;

蒲锐 ;

彭星韵 ;

黄冰如 .

中国专利 :CN106645064A ,2017-05-10

[2]

一种三维像素超分辨显微成像方法 [P].

费鹏 ;

虞之龙 ;

董思炎 ;

关泽一 ;

严刚 .

中国专利 :CN104111242A ,2014-10-22

[3]

一种受激辐射损耗敏化的荧光损耗原理及其超分辨成像方法与装置 [P].

詹求强 ;

朱志旻 ;

郭鑫 ;

蒲锐 ;

乔书倩 ;

黄冰如 .

中国专利 :CN115201165B ,2024-12-13

[4]

基于双光子与受激辐射损耗效应的超分辨激光直写与成像方法和装置 [P].

徐良 ;

刘秋兰 ;

张嘉晨 ;

杨臻垚 ;

匡翠方 ;

刘旭 .

中国专利 :CN119270597B ,2025-04-11

[5]

基于双光子与受激辐射损耗效应的超分辨激光直写与成像方法和装置 [P].

徐良 ;

刘秋兰 ;

张嘉晨 ;

杨臻垚 ;

匡翠方 ;

刘旭 .

中国专利 :CN119270597A ,2025-01-07

[6]

一种三维荧光信号编码超分辨显微成像方法 [P].

屈军乐 ;

王璐玮 ;

翁晓羽 .

中国专利 :CN117783071A ,2024-03-29

[7]

一种三维荧光信号编码超分辨显微成像方法 [P].

屈军乐 ;

王璐玮 ;

翁晓羽 .

中国专利 :CN117783071B ,2024-11-29

[8]

基于移频的三维超分辨光切片荧光显微成像方法和装置 [P].

匡翠方 ;

张乘风 ;

陈宇宸 ;

徐良 ;

刘旭 ;

李海峰 ;

毛磊 ;

张克奇 .

中国专利 :CN109870441A ,2019-06-11

[9]

一种镜面辅助三维超分辨显微成像系统及方法 [P].

郝翔 ;

袁地福 ;

韩于冰 ;

匡翠方 ;

刘旭 .

中国专利 :CN111504970B ,2020-08-07

[10]

一种受激辐射损耗超分辨荧光寿命成像方法 [P].

王璐玮 ;

屈军乐 ;

刘丽炜 ;

翁晓羽 .

中国专利 :CN118464863A ,2024-08-09

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