测试用例生成方法、装置、存储介质及电子设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202011610774.8
申请日
2020-12-30
公开(公告)号
CN112631929A
公开(公告)日
2021-04-09
发明(设计)人
谭林斯 李野 甄坡 袁友高 覃海鸥
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市福田区福田街道益田路5023号平安金融中心B座第22-25层
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
代理机构
深圳市隆天联鼎知识产权代理有限公司 44232
代理人
孙强
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
测试用例生成方法、测试用例生成装置、存储介质及电子设备 [P]. 
宋东辉 ;
朱丽青 ;
阳际荣 ;
陈锦海 .
中国专利 :CN119847920A ,2025-04-18
[2]
测试用例生成方法、装置、存储介质和电子设备 [P]. 
黄万民 ;
陈振宇 ;
张晋桂 ;
郭超 ;
杨鹏 ;
郑海涛 ;
林怡坤 .
中国专利 :CN114048147B ,2022-02-15
[3]
测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
杨春 .
中国专利 :CN115391219B ,2025-07-22
[4]
测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
靳铃花 ;
梁佳 ;
梁文艳 ;
李玉梅 ;
刘云 ;
陈哲桓 .
中国专利 :CN120353711A ,2025-07-22
[5]
测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
杨春 .
中国专利 :CN115391219A ,2022-11-25
[6]
测试用例生成方法、电子设备及存储介质 [P]. 
秦登达 ;
邹家辉 ;
尹倩倩 ;
魏桂萍 .
中国专利 :CN119782173A ,2025-04-08
[7]
测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王立东 ;
罗秉前 .
中国专利 :CN114185768B ,2024-10-25
[8]
测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN117172206B ,2024-01-23
[9]
测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
何新荣 .
中国专利 :CN109614312A ,2019-04-12
[10]
测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
何珍林 ;
曾琳铖曦 ;
吴海英 ;
蒋宁 ;
杨砚 .
中国专利 :CN113297086A ,2021-08-24