测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110604542.X

申请日：

2021-05-31

公开(公告)号：

CN113297086A

公开(公告)日：

2021-08-24

发明(设计)人：

何珍林曾琳铖曦吴海英蒋宁杨砚

申请人：

申请人地址：

401120 重庆市渝北区黄山大道中段52号渝兴广场B2栋4至8楼

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

代理机构：

北京鼎佳达知识产权代理事务所(普通合伙) 11348

代理人：

侯菲菲;刘铁生

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-08-24	公开	公开
2021-09-10	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20210531
2022-11-25	发明专利申请公布后的撤回	发明专利申请公布后的撤回 IPC(主分类):G06F 11/36 申请公布日:20210824

共 50 条

[1]

测试用例生成方法、测试用例生成装置、存储介质及电子设备 [P].

宋东辉 ;

朱丽青 ;

阳际荣 ;

陈锦海 .

中国专利 :CN119847920A ,2025-04-18

[2]

测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

何新荣 .

中国专利 :CN109614312A ,2019-04-12

[3]

测试用例生成方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

林晓升 .

中国专利 :CN117370190A ,2024-01-09

[4]

测试用例生成方法、电子设备及存储介质 [P].

秦登达 ;

邹家辉 ;

尹倩倩 ;

魏桂萍 .

中国专利 :CN119782173A ,2025-04-08

[5]

测试用例生成方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

谭林斯 ;

李野 ;

甄坡 ;

袁友高 ;

覃海鸥 .

中国专利 :CN112631929A ,2021-04-09

[6]

测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王立东 ;

罗秉前 .

中国专利 :CN114185768B ,2024-10-25

[7]

测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

杨春 .

中国专利 :CN115391219B ,2025-07-22

[8]

测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN117172206B ,2024-01-23

[9]

测试用例生成方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

温玲 ;

戈军 ;

刘阳 ;

李福全 ;

雷恩高 .

中国专利 :CN117827633A ,2024-04-05

[10]

测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王立东 ;

罗秉前 .

中国专利 :CN114116452B ,2024-11-26

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