测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111274803.2

申请日：

2021-10-29

公开(公告)号：

CN114116452B

公开(公告)日：

2024-11-26

发明(设计)人：

王立东罗秉前

申请人：

北京达佳互联信息技术有限公司

申请人地址：

100085 北京市海淀区上地西路6号1幢1层101D1-7

IPC主分类号：

G06F11/36

IPC分类号：

代理机构：

北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319

代理人：

吕俊秀

法律状态：

授权

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-11-26	授权	授权

共 50 条

[1]

测试用例生成方法、测试用例生成装置、存储介质及电子设备 [P].

宋东辉 ;

朱丽青 ;

阳际荣 ;

陈锦海 .

中国专利 :CN119847920A ,2025-04-18

[2]

测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王立东 ;

罗秉前 .

中国专利 :CN114116452A ,2022-03-01

[3]

测试用例生成方法及装置、存储介质和电子设备 [P].

姜蕾 .

中国专利 :CN120631768A ,2025-09-12

[4]

测试用例生成方法、电子设备及存储介质 [P].

秦登达 ;

邹家辉 ;

尹倩倩 ;

魏桂萍 .

中国专利 :CN119782173A ,2025-04-08

[5]

测试用例生成方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

谭林斯 ;

李野 ;

甄坡 ;

袁友高 ;

覃海鸥 .

中国专利 :CN112631929A ,2021-04-09

[6]

测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王立东 ;

罗秉前 .

中国专利 :CN114185768B ,2024-10-25

[7]

测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

杨春 .

中国专利 :CN115391219B ,2025-07-22

[8]

测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN117172206B ,2024-01-23

[9]

测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

何新荣 .

中国专利 :CN109614312A ,2019-04-12

[10]

测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

何珍林 ;

曾琳铖曦 ;

吴海英 ;

蒋宁 ;

杨砚 .

中国专利 :CN113297086A ,2021-08-24

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