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X射线金属元素分析仪
被引:0
专利类型
:
外观设计
申请号
:
CN201530120287.7
申请日
:
2015-04-29
公开(公告)号
:
CN303394192S
公开(公告)日
:
2015-09-30
发明(设计)人
:
刘彬
王伶俐
廉栋
李湘晋
申请人
:
申请人地址
:
102209 北京市昌平区未来科技城北区国电新能源技术研究院309楼9706
IPC主分类号
:
1005
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2015-09-30
授权
授权
2018-05-15
专利权的终止
未缴年费专利权终止 主分类号:10-05 申请日:20150429 授权公告日:20150930 终止日期:20170429
共 50 条
[1]
金属元素分析仪
[P].
李兴飞
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李兴飞
.
中国专利
:CN212433020U
,2021-01-29
[2]
金属元素分析仪
[P].
朱明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
朱明
.
中国专利
:CN2743830Y
,2005-11-30
[3]
光电比色金属元素分析仪
[P].
夏赞贵
论文数:
0
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0
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0
夏赞贵
;
邢小桃
论文数:
0
引用数:
0
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0
邢小桃
.
中国专利
:CN201368846Y
,2009-12-23
[4]
金属元素自动分析仪
[P].
张新申
论文数:
0
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0
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0
张新申
;
蒋小萍
论文数:
0
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0
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0
蒋小萍
.
中国专利
:CN2620871Y
,2004-06-16
[5]
重金属元素分析仪
[P].
张亮
论文数:
0
引用数:
0
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0
张亮
.
中国专利
:CN307336349S
,2022-05-13
[6]
一种金属元素分析仪
[P].
周仁威
论文数:
0
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0
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机构:
湖北虹科检测技术有限公司
湖北虹科检测技术有限公司
周仁威
;
李俊
论文数:
0
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机构:
湖北虹科检测技术有限公司
湖北虹科检测技术有限公司
李俊
;
程聪
论文数:
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机构:
湖北虹科检测技术有限公司
湖北虹科检测技术有限公司
程聪
.
中国专利
:CN223217494U
,2025-08-12
[7]
重金属元素分析仪(JPX系列)
[P].
高志帆
论文数:
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0
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机构:
苏州佳谱科技有限公司
苏州佳谱科技有限公司
高志帆
;
张红平
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机构:
苏州佳谱科技有限公司
苏州佳谱科技有限公司
张红平
;
王羚懿
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0
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机构:
苏州佳谱科技有限公司
苏州佳谱科技有限公司
王羚懿
;
孙宣兵
论文数:
0
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0
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0
机构:
苏州佳谱科技有限公司
苏州佳谱科技有限公司
孙宣兵
.
中国专利
:CN308975548S
,2024-11-29
[8]
X射线分析仪
[P].
岛充子
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0
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0
岛充子
;
坪冈徹
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0
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0
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坪冈徹
.
中国专利
:CN305011690S
,2019-01-22
[9]
X射线分析仪
[P].
杉江智哉
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0
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0
杉江智哉
.
中国专利
:CN306020606S
,2020-08-28
[10]
用于金属元素分析仪的参数调整电路
[P].
杨立新
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0
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0
杨立新
.
中国专利
:CN204495709U
,2015-07-22
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