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X射线分析仪
被引：0
专利类型：
外观设计
申请号：
CN202030143403.8
申请日：
2020-04-13
公开(公告)号：
CN306020606S
公开(公告)日：
2020-08-28
发明(设计)人：
杉江智哉
申请人：
申请人地址：
日本京都府京都市中京区西之京桑原町1番地
IPC主分类号：
2401
IPC分类号：
代理机构：
北京派特恩知识产权代理有限公司 11270
代理人：
张辛睿;李雪
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2020-08-28 | 授权 | 授权 |