X射线离线分析仪

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201922371221.0
申请日
2019-12-25
公开(公告)号
CN211426337U
公开(公告)日
2020-09-04
发明(设计)人
周俊 薄莉
申请人
申请人地址
221000 江苏省徐州市泉山区学苑路26号江苏建筑职业技术学院大学科技园6号楼116室
IPC主分类号
G01N23223
IPC分类号
代理机构
徐州创荣知识产权代理事务所(普通合伙) 32353
代理人
晏荣府
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
X射线荧光分析仪 [P]. 
苏显月 ;
闫晓晖 ;
拉海忠 ;
王莉菲 ;
刘慧娟 .
中国专利 :CN222994369U ,2025-06-17
[2]
X射线分析仪 [P]. 
长谷川清 .
中国专利 :CN1435686A ,2003-08-13
[3]
X射线分析仪 [P]. 
岛充子 ;
坪冈徹 .
中国专利 :CN305011690S ,2019-01-22
[4]
X射线分析仪 [P]. 
杉江智哉 .
中国专利 :CN306020606S ,2020-08-28
[5]
X射线应力分析仪 [P]. 
李家宝 ;
徐寒冰 ;
李立 ;
刘庆 ;
温井龙 ;
张利祥 .
中国专利 :CN2347163Y ,1999-11-03
[6]
X射线土壤分析仪 [P]. 
杨剑 .
中国专利 :CN307317470S ,2022-05-06
[7]
X射线荧光分析仪 [P]. 
朴正权 .
中国专利 :CN113950621A ,2022-01-18
[8]
一种X射线分析仪 [P]. 
郑华 ;
孙一帆 .
中国专利 :CN214150493U ,2021-09-07
[9]
全景X射线成像分析仪 [P]. 
郑小春 ;
倪龙海 ;
谢舒平 .
中国专利 :CN306934924S ,2021-11-12
[10]
X射线应力智能分析仪 [P]. 
李家宝 ;
徐寒冰 ;
李立 ;
刘庆 ;
温井龙 ;
张利祥 .
中国专利 :CN1112584C ,2000-06-28