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X射线离线分析仪
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201922371221.0
申请日
:
2019-12-25
公开(公告)号
:
CN211426337U
公开(公告)日
:
2020-09-04
发明(设计)人
:
周俊
薄莉
申请人
:
申请人地址
:
221000 江苏省徐州市泉山区学苑路26号江苏建筑职业技术学院大学科技园6号楼116室
IPC主分类号
:
G01N23223
IPC分类号
:
代理机构
:
徐州创荣知识产权代理事务所(普通合伙) 32353
代理人
:
晏荣府
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-09-04
授权
授权
共 50 条
[1]
X射线荧光分析仪
[P].
苏显月
论文数:
0
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0
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机构:
上海积塔半导体有限公司
上海积塔半导体有限公司
苏显月
;
闫晓晖
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机构:
上海积塔半导体有限公司
上海积塔半导体有限公司
闫晓晖
;
拉海忠
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0
机构:
上海积塔半导体有限公司
上海积塔半导体有限公司
拉海忠
;
王莉菲
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0
机构:
上海积塔半导体有限公司
上海积塔半导体有限公司
王莉菲
;
刘慧娟
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机构:
上海积塔半导体有限公司
上海积塔半导体有限公司
刘慧娟
.
中国专利
:CN222994369U
,2025-06-17
[2]
X射线分析仪
[P].
长谷川清
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长谷川清
.
中国专利
:CN1435686A
,2003-08-13
[3]
X射线分析仪
[P].
岛充子
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岛充子
;
坪冈徹
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坪冈徹
.
中国专利
:CN305011690S
,2019-01-22
[4]
X射线分析仪
[P].
杉江智哉
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杉江智哉
.
中国专利
:CN306020606S
,2020-08-28
[5]
X射线应力分析仪
[P].
李家宝
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李家宝
;
徐寒冰
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徐寒冰
;
李立
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李立
;
刘庆
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刘庆
;
温井龙
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温井龙
;
张利祥
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张利祥
.
中国专利
:CN2347163Y
,1999-11-03
[6]
X射线土壤分析仪
[P].
杨剑
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杨剑
.
中国专利
:CN307317470S
,2022-05-06
[7]
X射线荧光分析仪
[P].
朴正权
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0
朴正权
.
中国专利
:CN113950621A
,2022-01-18
[8]
一种X射线分析仪
[P].
郑华
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郑华
;
孙一帆
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孙一帆
.
中国专利
:CN214150493U
,2021-09-07
[9]
全景X射线成像分析仪
[P].
郑小春
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郑小春
;
倪龙海
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倪龙海
;
谢舒平
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谢舒平
.
中国专利
:CN306934924S
,2021-11-12
[10]
X射线应力智能分析仪
[P].
李家宝
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李家宝
;
徐寒冰
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徐寒冰
;
李立
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李立
;
刘庆
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刘庆
;
温井龙
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温井龙
;
张利祥
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张利祥
.
中国专利
:CN1112584C
,2000-06-28
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