X射线荧光分析仪

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202421922172.X

申请日：

2024-08-08

公开(公告)号：

CN222994369U

公开(公告)日：

2025-06-17

发明(设计)人：

苏显月闫晓晖拉海忠王莉菲刘慧娟

申请人：

上海积塔半导体有限公司

申请人地址：

201306 上海市浦东新区自由贸易试验区临港新片区云水路600号

IPC主分类号：

G01N23/223

IPC分类号：

代理机构：

上海隆天律师事务所 31282

代理人：

钟宗

法律状态：

授权

国省代码：

上海市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-06-17	授权	授权

共 50 条

[1]

X射线荧光分析仪 [P].

朴正权 .

中国专利 :CN113950621A ,2022-01-18

[2]

一种X射线荧光分析仪 [P].

颜一鸣 ;

丁训良 ;

赫业军 .

中国专利 :CN2237241Y ,1996-10-09

[3]

X射线荧光分析仪及其侧向进样装置 [P].

刘晓静 ;

张广华 ;

周剑波 ;

韩伟丹 ;

董青 .

中国专利 :CN218239891U ,2023-01-06

[4]

大气微尘X射线荧光分析仪 [P].

康海英 ;

郑维明 ;

崔大庆 ;

徐平 ;

刘联伟 ;

张彤 ;

侯胜德 ;

陶苗苗 .

中国专利 :CN305573935S ,2020-01-24

[5]

X射线荧光分析仪和用于执行X射线荧光分析的方法 [P].

T·科斯基宁 ;

A·佩里 ;

H·西皮拉 .

:CN112292593B ,2024-10-25

[6]

X射线荧光分析仪和用于执行X射线荧光分析的方法 [P].

T·科斯基宁 ;

A·佩里 ;

H·西皮拉 .

中国专利 :CN112292593A ,2021-01-29

[7]

X射线荧光分析仪和用于执行X射线荧光分析的方法 [P].

T·科斯基宁 ;

A·佩里 ;

H·西皮拉 .

:CN112313505B ,2025-01-03

[8]

X射线荧光分析仪和用于执行X射线荧光分析的方法 [P].

T·科斯基宁 ;

A·佩里 ;

H·西皮拉 .

中国专利 :CN112313505A ,2021-02-02

[9]

X射线荧光分析仪的制样装置 [P].

高志帆 ;

张红平 ;

孙宣兵 ;

宗迪 ;

宋硙 ;

陈泽武 .

中国专利 :CN220473413U ,2024-02-09

[10]

X射线荧光分析仪(EDX7618) [P].

林毅宁 .

中国专利 :CN300955816D ,2009-07-08

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