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X射线荧光分析仪和用于执行X射线荧光分析的方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201880094877.8
申请日：
2018-04-20
公开(公告)号：
CN112292593B
公开(公告)日：
2024-10-25
发明(设计)人：
T·科斯基宁
A·佩里
H·西皮拉
申请人：
美卓奥图泰芬兰有限公司
申请人地址：
芬兰坦佩雷
IPC主分类号：
G01N23/223
IPC分类号：
B03B13/06
G21K1/06
C22B3/02
G01T1/16
代理机构：
隆天知识产权代理有限公司 72003
代理人：
聂慧荃;郑特强
法律状态：
专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2025-07-25 | 专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更 | 专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更IPC(主分类):G01N 23/223变更事项:专利权人变更前:美卓奥图泰芬兰有限公司变更后:美卓芬兰有限公司变更事项:国家或地区变更前:芬兰变更后:芬兰变更事项:地址变更前:芬兰坦佩雷变更后:芬兰埃斯波 |
| 2024-10-25 | 授权 | 授权 |