X射线荧光分析仪(EDX7618)

被引：0

专利类型：

外观设计

申请号：

CN200830195206.X

申请日：

2008-06-25

公开(公告)号：

CN300955816D

公开(公告)日：

2009-07-08

发明(设计)人：

林毅宁

申请人：

申请人地址：

215300江苏省昆山市开发区长江南路(昆山留学人员创业园)

IPC主分类号：

1005

IPC分类号：

代理机构：

昆山四方专利事务所

代理人：

盛建德

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2009-07-08	授权	授权
2017-08-11	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101740961025 主分类号:10-05 专利号:ZL200830195206X 申请日:20080625 授权公告日:20090708 终止日期:20160625

共 50 条

[1]

X射线荧光分析仪 [P].

苏显月 ;

闫晓晖 ;

拉海忠 ;

王莉菲 ;

刘慧娟 .

中国专利 :CN222994369U ,2025-06-17

[2]

X射线荧光分析仪 [P].

朴正权 .

中国专利 :CN113950621A ,2022-01-18

[3]

大气微尘X射线荧光分析仪 [P].

康海英 ;

郑维明 ;

崔大庆 ;

徐平 ;

刘联伟 ;

张彤 ;

侯胜德 ;

陶苗苗 .

中国专利 :CN305573935S ,2020-01-24

[4]

便携式X射线荧光分析仪 [P].

熊正治 ;

王倩 ;

魏宗毅 ;

胡川妹 .

中国专利 :CN301318223S ,2010-08-18

[5]

一种X射线荧光分析仪 [P].

颜一鸣 ;

丁训良 ;

赫业军 .

中国专利 :CN2237241Y ,1996-10-09

[6]

便携式X射线荧光分析仪 [P].

王倩 ;

胡川妹 ;

魏宗毅 ;

熊正治 ;

李宏穆 .

中国专利 :CN301299890S ,2010-08-04

[7]

使用X光透镜的X射线荧光分析仪 [P].

颜一鸣 .

中国专利 :CN2145381Y ,1993-11-03

[8]

X射线荧光分析仪和用于执行X射线荧光分析的方法 [P].

T·科斯基宁 ;

A·佩里 ;

H·西皮拉 .

:CN112292593B ,2024-10-25

[9]

X射线荧光分析仪和用于执行X射线荧光分析的方法 [P].

T·科斯基宁 ;

A·佩里 ;

H·西皮拉 .

中国专利 :CN112292593A ,2021-01-29

[10]

X射线荧光分析仪和用于执行X射线荧光分析的方法 [P].

T·科斯基宁 ;

A·佩里 ;

H·西皮拉 .

:CN112313505B ,2025-01-03

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