双工位自动测试光箱

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201620941787.6

申请日：

2016-08-25

公开(公告)号：

CN206212189U

公开(公告)日：

2017-05-31

发明(设计)人：

周国文张克文

申请人：

申请人地址：

215200 江苏省苏州市中山北路2379号

IPC主分类号：

H04N1700

IPC分类号：

代理机构：

常州佰业腾飞专利代理事务所(普通合伙) 32231

代理人：

翁斌

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-05-31	授权	授权
2020-08-07	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H04N 17/00 申请日:20160825 授权公告日:20170531 终止日期:20190825

共 50 条

[1]

一种双工位共用自动测试设备 [P].

聂琪双 .

中国专利 :CN215866796U ,2022-02-18

[2]

自动测试光箱 [P].

徐永才 .

中国专利 :CN202120035U ,2012-01-18

[3]

双工位VCSEL半自动测试机 [P].

孙庆 .

中国专利 :CN216083003U ,2022-03-18

[4]

一种双工位晶片自动测试分选机 [P].

潘东东 ;

张明 ;

李天宝 ;

汪晓虎 ;

谢凡 ;

朱成 .

中国专利 :CN216500812U ,2022-05-13

[5]

一种自动化双工位测试装置 [P].

何伟锋 ;

刘宇 .

中国专利 :CN208334435U ,2019-01-04

[6]

充电桩自动测试工位 [P].

欧枝龙 .

中国专利 :CN218289512U ,2023-01-13

[7]

一种用于线材自动测试机的双工位测试机构 [P].

徐兵 .

中国专利 :CN214703717U ,2021-11-12

[8]

一种芯片双工位自动测试工装 [P].

张阳 .

中国专利 :CN216449691U ,2022-05-06

[9]

一种双工位晶片自动测试分选机 [P].

潘东东 ;

张明 ;

李天宝 ;

汪晓虎 ;

谢凡 ;

朱成 .

中国专利 :CN113953198A ,2022-01-21

[10]

光模块自动测试系统 [P].

庄礼杰 ;

肖思雄 ;

鲁佳 ;

何志龙 ;

莫育霖 .

中国专利 :CN209372363U ,2019-09-10

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