性能测试方法、装置、计算机设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201810332203.9
申请日
2018-04-13
公开(公告)号
CN108572918A
公开(公告)日
2018-09-25
发明(设计)人
张雪梅
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市前海深港合作区前湾一路1号A栋201室(入驻深圳市前海商务秘书有限公司)
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
代理机构
深圳市精英专利事务所 44242
代理人
林燕云
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
性能测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
陈晰亮 .
中国专利 :CN108415847A ,2018-08-17
[2]
性能测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
杨帆 .
中国专利 :CN117271371B ,2024-03-12
[3]
性能测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
冷睿泽 .
中国专利 :CN118820108A ,2024-10-22
[4]
性能测试方法及装置、计算机设备、存储介质 [P]. 
李雅琼 .
中国专利 :CN110058990A ,2019-07-26
[5]
性能测试方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P]. 
杨丹丹 ;
杨阳 ;
吕斌 ;
詹子曦 ;
林英 .
中国专利 :CN117435448A ,2024-01-23
[6]
性能测试方法及装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P]. 
杨毅刚 .
中国专利 :CN112115029A ,2020-12-22
[7]
性能测试方法及装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P]. 
杨毅刚 .
中国专利 :CN112115029B ,2024-10-11
[8]
芯片性能测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN119044740A ,2024-11-29
[9]
性能测试方法、装置、计算机设备及可读存储介质 [P]. 
许群海 ;
李旺太 ;
高宝军 .
中国专利 :CN120892328A ,2025-11-04
[10]
性能测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P]. 
王自挺 .
中国专利 :CN109583688A ,2019-04-05